THS1209在TestMode下，为什么有SYNC输出？

在初始化时，向CR1的BIT1写1，将SYNC复位一下试试。

你是指你的RD是由CONV_CLK经处理后产生的？
任何ADC从片选选通后到，数据稳定，都会有一个时间过程的。
datasheet中列出了Access time, last CS valid to data valid最长时间是10ns

原理上是的，此时MUX会将ADC的输入接到三种内部电压中的一种。而不是接到输入引脚上了。

THS1209是一款高速模数转换器（ADC），在TestMode下，它的行为可能会有所不同。以下是针对您提出的问题的解答：

1. 在TestMode下，为什么有SYNC输出？而且输出频率与CONV_CLK频率不相关。

在TestMode下，SYNC输出可能是由于内部测试逻辑或时钟分频器产生的。这种输出可能与CONV_CLK频率无关，因为它可能是由内部时钟或测试模式特定的逻辑产生的。在这种情况下，SYNC输出的频率可能是固定的，或者在一定范围内变化，这取决于THS1209的内部设计。

2. 读数据的过程中，/RD信号为由CONV_CLK经过延时产生。/RD低电平的半周期内，数据线上的数据不是稳定的，而是有几次方波样的跳变。

这种现象可能是由于/RD信号的生成过程中存在时序问题。在/RD低电平的半周期内，数据可能还没有完全稳定，导致数据线上出现方波样的跳变。这可能是由于CONV_CLK信号的延时或/RD信号的生成逻辑导致的。为了解决这个问题，可以尝试调整时序参数或优化/RD信号的生成逻辑。

3. 在TestMode下，Control Register0的bit7-3的设定是否可以为任意值？

在TestMode下，Control Register0的bit7-3的设定可能受到限制。这些位通常用于控制ADC的工作模式、采样率、分辨率等参数。在TestMode下，这些位的设定可能受到限制，以确保ADC能够正常工作。因此，在TestMode下，这些位的设定可能需要遵循特定的规则或限制。建议查阅THS1209的数据手册，了解在TestMode下这些位的具体设定要求。

总之，THS1209在TestMode下的行为可能与正常工作模式有所不同。为了确保ADC能够正常工作，建议仔细阅读数据手册，了解在TestMode下的具体要求和限制。