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配置ADC08D500为DES+DDR模式,模拟信号从I端输入,实际采集数据时Q通道数据异常,是什么原因?


  • 配置ADC08D500为DES+DDR模式(即双沿采样,双沿输出),模拟信号从I端输入,实际采集数据时,发现LVDS I通道数据正常,Q通道数据异常,两个通道上连续采样的值差异很大(如I通道输出值为0x00,紧跟着Q通道为0xA0);
    请教下这款器件能配置成上述模块工作吗,出现以上问题有可能是什么原因?

回帖(3)

王秀荣

2024-12-20 14:45:33
      手册明确说明       Choice of SDR or DDR Output Clocking
这个功能肯定有,              可能就是配置问题
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张霞

2024-12-20 14:45:42
您是如何配置的,如果想I和Q通道都被采样,可以采用 DES + extended control mode这个模式。
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h1654155275.5748

2024-12-21 17:30:06
ADC08D500是一款高速ADC芯片,用于将模拟信号转换为数字信号。根据您的描述,您已经将ADC08D500配置为DES+DDR模式,即双沿采样,双沿输出。在这种情况下,模拟信号从I端输入,LVDS I通道数据正常,但Q通道数据异常。以下是一些可能的原因:

1. 信号完整性问题:在高速ADC应用中,信号完整性至关重要。请检查您的PCB设计,确保信号路径尽可能短且无干扰。此外,检查电源和地平面的布局,确保它们能够提供稳定的电源和良好的接地。

2. 时钟同步问题:在DES+DDR模式下,时钟信号对于采样和输出至关重要。请确保时钟信号的稳定性和同步性。检查时钟信号的相位和频率是否符合ADC08D500的要求。

3. 模拟信号问题:请检查模拟信号的质量和稳定性。确保模拟信号没有噪声或失真,这可能导致Q通道数据异常。

4. LVDS接口问题:检查LVDS接口的连接和布线,确保它们符合ADC08D500的要求。可能存在接口损坏或布线错误,导致Q通道数据异常。

5. 配置错误:请仔细检查您的配置设置,确保它们正确无误。错误的配置可能导致Q通道数据异常。

6. 芯片损坏:虽然不太可能,但芯片损坏也可能导致Q通道数据异常。您可以尝试更换芯片,看看问题是否得到解决。

总之,要解决这个问题,您需要从多个方面进行排查,包括信号完整性、时钟同步、模拟信号质量、LVDS接口和配置设置。希望这些建议能帮助您找到问题的原因并解决它。
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