DDC112U如何在TEST模式下工作？

 可能时间太短会导致还没有电位平衡吧

是因为主控SPI经过SN74LVC2T45DCT电平转换芯片后，时序错乱(原因还在查找中)。用IO口模拟读取数据时完全没问题的

根据您提供的信息，DDC112U在TEST模式下工作，CLK为12MHz，采用Continuous Mode。当CONV信号的脉冲宽度大于100ms时，电荷量约为13pc，符合预期。然而，当CONV信号的脉冲宽度小于100ms时，电荷量降至29pc左右。以下是可能导致这种情况的几个原因：

1. 信号同步问题：CONV信号在CLK信号的上升沿切换，可能存在信号同步问题。当CONV信号的脉冲宽度较短时，信号同步问题可能导致电荷量测量不准确。

2. 电路噪声：在高频工作条件下，电路噪声可能会影响电荷量测量。当CONV信号的脉冲宽度较短时，电路噪声对测量结果的影响可能更加明显。

3. 电荷积累不足：当CONV信号的脉冲宽度较短时，电荷积累可能不足，导致测量到的电荷量低于预期。

4. 测试环境差异：不同的测试环境可能导致测量结果的差异。例如，温度、湿度、电源电压等因素可能影响电荷量测量。

为了解决这个问题，您可以尝试以下方法：

1. 优化信号同步：检查CONV信号与CLK信号之间的同步关系，确保信号同步正确。

2. 降低电路噪声：检查电路设计，降低噪声源，例如使用低噪声电源、增加滤波器等。

3. 增加电荷积累时间：尝试增加CONV信号的脉冲宽度，以确保电荷积累充足。

4. 优化测试环境：确保测试环境稳定，减少温度、湿度、电源电压等因素的影响。

5. 检查数据手册和电路设计：仔细检查数据手册，确保电路设计符合要求。如果问题仍然存在，可以考虑联系DDC112U的制造商，寻求技术支持。