SSW(系统软件)中的LBIST(逻辑内置自测试)是一种用于检测和诊断集成电路中逻辑故障的技术。在TC377电路板上,ESR0(事件存储寄存器0)用于记录和存储与系统相关的事件。
当在UCB(用户控制块)中启用LBIST时,ESR0在释放4.4ms后会有一个579us脉冲。这个脉冲的原因可能是:
1. LBIST初始化:当LBIST被启用时,系统可能需要一些时间来初始化LBIST过程。这个初始化过程可能会在ESR0上产生一个短暂的脉冲。
2. 测试模式切换:启用LBIST后,系统可能需要切换到测试模式。这个模式切换过程可能会在ESR0上产生一个短暂的脉冲。
3. 测试时序:LBIST测试可能需要特定的时序来执行。这个时序可能会在ESR0上产生一个短暂的脉冲。
4. 测试结果记录:LBIST测试完成后,系统可能需要记录测试结果。这个过程可能会在ESR0上产生一个短暂的脉冲。
如果在UCB中禁用LBIST,ESR0将直接释放,这意味着没有LBIST相关的操作,ESR0不会受到任何影响。
如果在cstart条目中添加了一个无尽的while循环,脉冲仍然会出现在相同位置,这表明脉冲是在cstart()执行之前产生的。这可能是由于LBIST初始化或测试模式切换等操作在cstart()执行之前已经完成。
总之,ESR0上的579us脉冲可能是由于LBIST初始化、测试模式切换、测试时序或测试结果记录等原因引起的。要确定具体原因,需要进一步分析系统软件和硬件设计。
SSW(系统软件)中的LBIST(逻辑内置自测试)是一种用于检测和诊断集成电路中逻辑故障的技术。在TC377电路板上,ESR0(事件存储寄存器0)用于记录和存储与系统相关的事件。
当在UCB(用户控制块)中启用LBIST时,ESR0在释放4.4ms后会有一个579us脉冲。这个脉冲的原因可能是:
1. LBIST初始化:当LBIST被启用时,系统可能需要一些时间来初始化LBIST过程。这个初始化过程可能会在ESR0上产生一个短暂的脉冲。
2. 测试模式切换:启用LBIST后,系统可能需要切换到测试模式。这个模式切换过程可能会在ESR0上产生一个短暂的脉冲。
3. 测试时序:LBIST测试可能需要特定的时序来执行。这个时序可能会在ESR0上产生一个短暂的脉冲。
4. 测试结果记录:LBIST测试完成后,系统可能需要记录测试结果。这个过程可能会在ESR0上产生一个短暂的脉冲。
如果在UCB中禁用LBIST,ESR0将直接释放,这意味着没有LBIST相关的操作,ESR0不会受到任何影响。
如果在cstart条目中添加了一个无尽的while循环,脉冲仍然会出现在相同位置,这表明脉冲是在cstart()执行之前产生的。这可能是由于LBIST初始化或测试模式切换等操作在cstart()执行之前已经完成。
总之,ESR0上的579us脉冲可能是由于LBIST初始化、测试模式切换、测试时序或测试结果记录等原因引起的。要确定具体原因,需要进一步分析系统软件和硬件设计。
举报