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王燕

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对MOS管开通过程进行详细的分析

  最近在项目上遇到MOSFET关机出现振荡的情况,在解决问题的过程中发现——当前的电子产品基本上已经离不开MOSFET这个器件了。比如,使用MOS管做防反接的电路,使用MOS管做开关电源的开关管,使用MOSFET进行电平转换等等。毫不夸张的说,MOSFET这个器件已经深入到电子产品的每一个角落。
  介绍MOS管以前,有几个常见的名字需要了解一下:
  FET: Field Effect Transistor ,场效应晶体管。
  MOSFET: Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor,金属氧化物半导体场效应晶体管。
  耗尽层:在PN结附近,其中的载流子因扩散而耗尽,只留下不能移动的正负离子的区域,又称空间电荷区。P型半导体和N型半导体接触形成的空间电荷区就是耗尽层。
  反型层:反型层就是P型半导体本来多子是空穴,但是形成一个层,里面空穴没有了,出现了大量电子。
  看到下面这张图是不是很熟悉。
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  但是我觉得还可以从MOSFET的半导体原理出发来,详细分析MOS管的开通。分析MOS管的开通过程时,需要使用它的等效模型,如下图所示:
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  另外,还需要结合MOS管半导体原理,如下图所示:
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  使用multisim软件对MOS管的开通过程进行仿真,可以得到下面的曲线
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  从仿真可以看出,Vgs有一个很明显的平台区,这个平台区就是大家所熟知的米勒平台区,它会影响MOS管的开通和关断过程。对于这个平台区,在开关电源中会引起较大的开关损耗,这是它不利的一面;但是在EMI超标的时候,适当的增加Cgd电容,延长MOS管的开通过程,又可以用来降低EMI。
  在分析MOS管的开通过程,还需要结合MOS管的转移特性和输出特性以及实际的电路进行分析。
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  以12V的驱动电压,Vth为4.5V,开通Vds电压为24V的MOS管为例。
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  在t0~t1阶段:Vds=24V,Vgs=0V,此时MOS管由于Vgs小于Vth,在P区衬底和N型参杂区等效是两个反向的二极管,MOS管处于截止状态。
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  开通的波形如下图所示:
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  在t1~t2阶段:Vgs电压开始上升,在它上升的过程中,栅极下面的出现了两种状态。Vgs刚加上时,会将衬底P区的空穴排斥到下面,但是里面的电子并不能移动,此时就形成了耗尽层。随着Vgs的增加,P区下面的电子会被栅极的电场吸引到耗尽层,这时候耗尽层由于自由电子的增加,变成了反型层。反型层的生成就将源极和漏极连通了,也就形成了导电沟道,此时的Vgs电压就是Vth。
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  上面的分析是基于Vds=0V的状态,但是由于现在MOS管的Vds=24V,即使源极和漏极之间形成了反型层,但是由于Vds之间存在电压,且比较大,会直接将沟道夹断。目前能找的很多资料基本都是讲Vds从0开始增加,增加到一定值时才会形成“预夹断区”。实际在正常使用MOS管的时候,Vds往往承受的电压是比较大的。
  MOS管的Vgs没有达到开通阈值电压时,MOS管处于截止状态很好理解。但是在正常开通一个MOS管的时候,当Vgs电压刚刚大于Vth时,此时Vds已经非常大,大到可以直接将刚刚形成的导电沟道夹断,即出现了开通就夹断的状态。
  开通的波形如下图所示:
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  在t2~t3阶段:随着Vgs进一步增大,此时MOS管处于开通状态,Id电流开始上升,直到MOS管将Cgs的电容的电充满。Vds由于还是处在超过了预夹断电压的的状态,因此,即使Id的电流达到了饱和值,但是由于夹断区的存在,Vds的电压还是会保持在24V。
  开通波形如下图所示:
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  下图所示在栅极和漏极靠近的位置出现了夹断区。
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  在t3~t4阶段:影响MOS管开通很重要的一部分就是在t3~t4阶段,也就是所谓的米勒平台区。结合MOS管开通的过程,米勒平台要给cgd电容充电的根本原因是Vgd的电压太高,远远超过了Vgs-Vth的值。由于Vds与Vgs-Vth的值是判断MOS管形成的沟道是否被夹断的电压阈值。在Vds=24V,Vgs=9V的条件下(假设在此处形成米勒平台),明显Vds》Vgs-Vth。
  现在要使MOS管开通,必然要改变Vgd(Vgd=Vgs-Vds)的电压,使Vgd《Vth,才能使导电沟道退出夹断状态,连通Vgd电压的正是米勒电容Cgd。因此,在米勒平台区发生了一件事,驱动电压给Cgd电容充电,将Vgd的电容的电压从上正下负,变成了下正上负。
  在给Cgd电容充电的过程中,相当于降低了MOS管的Rdson电阻,Vds的电压开始下降,直到沟道内的内阻,Vgs处的电场,沟通内的电子处于平衡状态时,Cgd电容充电结束,Vgs的电压随后上升,但是Vds的电压和Id的电流不会改变。
  开通波形如下图所示:
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  在t4~t5阶段:Vgs的电压达到驱动电压12V的幅值,整个开通的过程到此结束。
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  从上述的MOS管开通的过程可以看出,需要重点关注的就是t1~t2,t2~t3这两个阶段,非常多的问题都是出在这两个过程中。
  如果驱动电路设计的不合理,可能会出现MOS管无法开通或者是误导通的情况。如果米勒平台区的时间太长,会导致MOS管由于电压和电流重叠区的时间较长,导致MOS管发热严重,既会导致MOS管被热击穿,还会使整个系统的效率下降。




原作者:零下12度半 大话硬件

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