1.调试的芯片是mc3253
2.通过i2c配置寄存器
3.调试过程
（1）初始化i2c，i2c的读写速率
（2）i2c的读写函数，读写函数基本相同，设备从地址不同
（3）从设备的地址。
（4）先读取芯片的id，看i2c是否能通讯，从设备的地址是否正常，芯片的焊接是否有问题。
（5）开始调试值，这个寄存器的值，一般会有，主要调试阈值，采样的频率，工作模式，中断等。
8.24-------------------------------------------------------------------------------------------------------------
附一张初始化的图片：
现在调试的过程就是，用的在nordic上的已经调试好的加速度的代码，移植到emf32这个单片机平台上。然后设置寄存器，当发生敲击事件触发中断。
敲击加速度传感器，发现未发生中断。
问题分析：
基本情况是：muc + acc，通过i2c进行通信。
一开始测试通信是否可行，发现通过i2c可以发送数据，读取数据。i2c ok，
再读取xyz的数值，发现没有数据。
开始觉得是芯片坏了，或者寄存器的值没有设置对。然后开始扒芯片手册，一个一个对寄存器。
1.首先是芯片的寄存器，为了兼容别的芯片，这个寄存器的值是一定需要的。
mc3256_read_byte2(0x32, ®);,//寄存器0x32,读取的值放入reg中
2,.然后是设置芯片的模式设置，要修改寄存器的值，芯片的状态一定要是standby，否则修改不成功。
reg=(0x43);
mc3256_write_byte2(0x07, reg);
注意：如果要芯片工作且能触发中断，则模式要修改为wake
reg=0x41; //该值将中断脚拉高
//reg=0xC1; //该值可以将中断脚拉低
mc3256_write_byte2(0x07, reg);
注：通过i2c修改这两个寄存器的值，来确定中断脚是否有焊接问题，如果中断脚能被拉高拉低，则确定焊接无关，最后测试该脚一直是低状态。
3.修改要触发的中断种类，这个寄存器表示，设置为什么中断，当达到条件时就会触发，相当于使能某个种类的中断，比如敲击中断，摇晃中断，跌落中断等。
reg=0x04;//(reg|0x10); // use tap int type
mc3256_write_byte2(0x06, reg);
4.设置xyz探测的使能，此处表示xyz轴有变化的检测
//tap dected on x y and z-axis
reg=0xE0;
mc3256_write_byte2(0x09, reg);//
5.阈值的设置，对中断产生的一个阈值，一般通过调节这个值来
//set tap threshold
reg=0x11;///0-ff
mc3256_write_byte2(0x32, reg);//
6.然后读取一次中断标志寄存器，清一下中断。
//mdelay(100);
mc3256_read_byte2(0x03, ®);// read 0x03 once ,avoiding register value is not 0x0
7.再最后将芯片的工作模式由standby修改为wakeup
//wake mode
reg=0x41;
//reg=0xC1;
mc3256_write_byte2(0x07, reg);
8.对完这些寄存器后，发现有个寄存器设置的不对，就是检测这个xyz的，修改完之后，读取xyz轴的坐标，发现果然可以读取到值，然后在翻转芯片等，发现数值都是正确的，满心以为调试ok
reg=0x02; -》修改为0x03
mc3256_write_byte2(0x20, reg);//8bit 2g
发现敲击还是没有中断，整个人都不好了。
开始将mcu和加速度芯片连接的中断脚分开，分别测量装填，mcu中断脚高电平，加速度中断脚低电平，（此处测量的是引到mcu的线路上，并不是直接连接acc芯片的引脚）
通过i2c发送数据，将中断脚拉低，发现问题，中断脚未焊好。这里就是往上述的0x07里面写入不同的值。
从新焊接后，敲击，发生中断事件，muc这边中断设置为下降沿触发。每次触发后，清除中断。
一切都写好之后，发现只有在初始化的时候，才会触动中断，接着又不行了，发现acc的中断标志位已经被清除了，但是事实上就是中断未清除，后来打印这个中断状态寄存器的值（0x03）发现中断时是被清楚的，但是就是不触发中断，后来将读取中断寄存器的值读取时间太快了（每次触发中断之后都去读取这个中断标志，这个时间太短，后来改为定时器3秒后去读取），后来发现一切都可以了。
1.调试的芯片是mc3253
2.通过i2c配置寄存器
3.调试过程
（1）初始化i2c，i2c的读写速率
（2）i2c的读写函数，读写函数基本相同，设备从地址不同
（3）从设备的地址。
（4）先读取芯片的id，看i2c是否能通讯，从设备的地址是否正常，芯片的焊接是否有问题。
（5）开始调试值，这个寄存器的值，一般会有，主要调试阈值，采样的频率，工作模式，中断等。
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附一张初始化的图片：
现在调试的过程就是，用的在nordic上的已经调试好的加速度的代码，移植到emf32这个单片机平台上。然后设置寄存器，当发生敲击事件触发中断。
敲击加速度传感器，发现未发生中断。
问题分析：
基本情况是：muc + acc，通过i2c进行通信。
一开始测试通信是否可行，发现通过i2c可以发送数据，读取数据。i2c ok，
再读取xyz的数值，发现没有数据。
开始觉得是芯片坏了，或者寄存器的值没有设置对。然后开始扒芯片手册，一个一个对寄存器。
1.首先是芯片的寄存器，为了兼容别的芯片，这个寄存器的值是一定需要的。
mc3256_read_byte2(0x32, ®);,//寄存器0x32,读取的值放入reg中
2,.然后是设置芯片的模式设置，要修改寄存器的值，芯片的状态一定要是standby，否则修改不成功。
reg=(0x43);
mc3256_write_byte2(0x07, reg);
注意：如果要芯片工作且能触发中断，则模式要修改为wake
reg=0x41; //该值将中断脚拉高
//reg=0xC1; //该值可以将中断脚拉低
mc3256_write_byte2(0x07, reg);
注：通过i2c修改这两个寄存器的值，来确定中断脚是否有焊接问题，如果中断脚能被拉高拉低，则确定焊接无关，最后测试该脚一直是低状态。
3.修改要触发的中断种类，这个寄存器表示，设置为什么中断，当达到条件时就会触发，相当于使能某个种类的中断，比如敲击中断，摇晃中断，跌落中断等。
reg=0x04;//(reg|0x10); // use tap int type
mc3256_write_byte2(0x06, reg);
4.设置xyz探测的使能，此处表示xyz轴有变化的检测
//tap dected on x y and z-axis
reg=0xE0;
mc3256_write_byte2(0x09, reg);//
5.阈值的设置，对中断产生的一个阈值，一般通过调节这个值来
//set tap threshold
reg=0x11;///0-ff
mc3256_write_byte2(0x32, reg);//
6.然后读取一次中断标志寄存器，清一下中断。
//mdelay(100);
mc3256_read_byte2(0x03, ®);// read 0x03 once ,avoiding register value is not 0x0
7.再最后将芯片的工作模式由standby修改为wakeup
//wake mode
reg=0x41;
//reg=0xC1;
mc3256_write_byte2(0x07, reg);
8.对完这些寄存器后，发现有个寄存器设置的不对，就是检测这个xyz的，修改完之后，读取xyz轴的坐标，发现果然可以读取到值，然后在翻转芯片等，发现数值都是正确的，满心以为调试ok
reg=0x02; -》修改为0x03
mc3256_write_byte2(0x20, reg);//8bit 2g
发现敲击还是没有中断，整个人都不好了。
开始将mcu和加速度芯片连接的中断脚分开，分别测量装填，mcu中断脚高电平，加速度中断脚低电平，（此处测量的是引到mcu的线路上，并不是直接连接acc芯片的引脚）
通过i2c发送数据，将中断脚拉低，发现问题，中断脚未焊好。这里就是往上述的0x07里面写入不同的值。
从新焊接后，敲击，发生中断事件，muc这边中断设置为下降沿触发。每次触发后，清除中断。
一切都写好之后，发现只有在初始化的时候，才会触动中断，接着又不行了，发现acc的中断标志位已经被清除了，但是事实上就是中断未清除，后来打印这个中断状态寄存器的值（0x03）发现中断时是被清楚的，但是就是不触发中断，后来将读取中断寄存器的值读取时间太快了（每次触发中断之后都去读取这个中断标志，这个时间太短，后来改为定时器3秒后去读取），后来发现一切都可以了。
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