压敏电阻的失效模式
Ø 热击穿
由于劣化,内部均匀化差及吸收的脉冲能量过大等原因,会造成它的发热大于散热,引起热崩溃(或局部热崩溃),最终造成薄弱点穿孔而击穿
Ø 开裂
由于
元件本身存在结构应力,在元件吸收大量能量时,因热应力作用而导致开裂.有时也有短路或开路情况发生
Ø 炸裂
当冲击电流的幅值很大,且时间宽度小于50μS (例如8/20μS电流波)时,就会发生炸裂,就会发生炸裂.这是因为在这样短的时间内,电流所产生的热量来不及在晶粒间传导,可视作绝热过程.其结果是电流比较集中的。
解决方法：
Ø 尽量选择优质的产品（如已经过认证的产品）。譬如通过的认证UL1449 ：、VDE、CQC、CSA
Ø 从抑制瞬变干扰的角度出发，要尽量降低外施电压与压敏电压的比率（它反映压敏电的荷电率），选择压敏电压稍高的MOV。必要时可采取多级保护，以解决元件寿命和被保护设备对瞬变抑制的要求。
Ø 当压敏电阻应用在浪涌脉冲重复产生的场合时，通过压敏电阻的浪涌峰值电流和浪涌能量不应超过“脉冲电流寿命值”中的规定值。选择通流量稍大的压敏电阻。
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