关于芯片电性失效分析步骤

`宜特实验室累积的经验建议您：
①先做ATE测试，拿到好品和失效品的数据，
②再拿测量后的不良品和好品来抓异常热点，
③对照版图找到异常部位的电路模块，找DE结合ATE的数据来推测有可能是哪个器件出了问题，然后再做FIB验证想法，找出问题点。

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