芯片测试与失效分析
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杨海清
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【电路设计】+ 双口RAM芯片测试模块(MSP430F122+MAX491)
电路设计
RAM芯片
针对目标板上的双口RAM芯片的右端口进行读写测试,来检测右端口和内部存储地址的正确性。
原理图1:
RS422接口:
MCU:
LDO:
DB9接口:
PCB
LAYOUT:
PCB 3D view:
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RAM芯片
RAM
分为简单
双
口
RAM
和真
双
口
RAM
34988
MSP430F122
,pdf(Mixed Signal Mi
13
fpga
双
口
ram
的使用
1983
使用
MSP430F
1611中的大
RAM
注意事项
19
MSP430F
常用
模块
应用原理总结
7
MSP430F
常用
模块
应用原理
7
MSP430F
常用
模块
应用原理
10
基于
MSP430F
2的基础时钟
模块
5
MSP430F
155/
MSP430F
156/
MSP430F
1
366
基于FPGA的
双
口
RAM
实现及应用
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