芯片测试与失效分析
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非破坏性分析和SAT检测

超音波显微镜SAT检测
超音波显微镜(SAT),原理是藉由超音波于不同密度材料之反射速率及能量不同的特性,来进行分析。利用纯水当介质传递超音波信号,当信号遇到不同材料的接口时,会部分反射、部分穿透,机台就会接收这些信号组成影像。
SAT超音波可用来检测芯片组件内部不同位置的脱层(Delaminaiton)、裂缝(Crack)、气洞及粘着状况,多用于检察芯片封胶内的缺陷。
不同的样品其适用的检测探头不同,宜特拥有目前全***完整的探头组合,从低频15 Mhz至高频110 Mhz及更高阶的UHF(230MHz)超高频探头,可满足不同封装型式的芯片检测。

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