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AR 多频辐射抗扰度测试系统

本帖最后由 一只耳朵怪 于 2018-6-26 14:46 编辑

多频辐射抗扰度测试系统MT06000 多个频点干扰信号, 一般辐射抗扰度测试需要大量的时间来完成全频段测试。大多数测试人员都希望能提高抗扰度测试效率、节省时间。一般的考虑如下:


1. 一个天线是否能够覆盖整个测试频段?


2. 射频开关(RF 开关)是否可以自动切换?


3. 是否有控制器能够自动转换天线的极化方向, 甚至于自动转换 EUT 的角度以使


其四面都可暴露在测试面内?


4. 是否可以缩短驻留时间但不影响测试?


    以上想法均是有效的,但他们仅仅能够减少测试中断时的过渡时间,这些时间对整个测试来说所占比例很低。是否有方法能降低测试时间本身,而又能使测试满足标准要求呢?


    这种看似不可能实现的测试方法已经被我们找到,也就是多频辐射抗扰度测试系统。AR RF/Microwave Instrumentation 开发了相关专利产品,可在测试或者驻留时间内增加额外的频点。相对单一频点测试,多频测试提升了测试效率,效率提升幅度大约等于多频的数量。例如,在一个四频测试系统中,测试时间大概为单频测试的四分之一。


ar.jpg ar1.jpg


     AR RF/Microwave Instrumentation 多频测试是符合相关电磁兼容标准要求的。传统测试和多频测试最大的区别在于测量速度不同。在校准过程中,同样遵循标准要求的方法和步骤, 以验证前向功率或电场强度是否达到标准要求。 在进行 2dB 压缩余量核查中找出多频数量。在进行场强-6dBc 谐波分量核查中进行二次检验多频数量。当多频的频率组被确定后,将在测试过程中按照相应的组别进行测试。多频测试的频率组是软件自动确定和划分的,用户也可通过软件更改多频测试组内的频率数量。测试时每个频率:


★ 达到测试所需测试场强


★ 满足测试频率要求


★ 满足标准要求测试步进


★ 满足标准 1kHz 80%调制要求


★ 满足标准要求的驻留时间


    由此可见,所有标准要求都可达到,能够大大节约测试时间并且满足标准要求的多频测试是可行的。


    在将来,这种技术应用可能与真实的多频电磁环境更加的类似。在真实世界中 EUT是暴露在多种不同电磁频率干扰下的。 传统的单频点测试敏感性在真实情况中很难发生。很多产品制造商已经开始利用多频测试来发现产品的敏感性并提升产品的抗干扰能力。AR 的 multi star (MT06000 Multi-Tone)测试系统复杂的内置算法,可让多频测试更加的简便,保证了信号完整性并确保信号不是由非线性互调产生。



回帖(1)

林宝

2020-1-16 20:06:13
好好学习,天天向上~~
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