IC测试中三种常见的可测性技术

2011-12-15 09:35:34 7262 测试

0 边界扫描测试　　为了对电路板级的逻辑和连接进行测试，工业界和学术界提出了一种边界扫描的设计，边界扫描主要是指对芯片管脚与核心逻辑之间的连接进行扫描。扫描路径设计(Scan Design)　　扫描路径法是一种针对时序电路芯片的DFT方案.其基本原理是时序电路可以模型化为一个组合电路网络和带触发器（Flip-Flop，简称FF）的时序电路网络的反馈。内建自测试　　内建自测试（BIST）设计技术通过在芯片的设计中加入一些额外的自测试电路，测试时只需要从外部施加必要的控制信号，通过运行内建的自测试硬件和软件，检查被测电路的缺陷或故障。和扫描设计不同的是，内建自测试的测试向量一般是内部生成的，而不是外部输入的。内建自测试可以简化测试步骤，而且无需昂贵的测试仪器和设备（如ATE设备），但它增加了芯片设计的复杂性。 2
2011-12-15 09:35:34　　评论淘帖0 举报相关推荐 • 三种常见的光刻技术方法 10691 • 比较三种信号完整性的常用的三种测试方法 2676 • 常见的三种CPU封装技术 13583 • FPGA中三种常用复位电路 2455 • 多媒体展馆中三种常见的墙面互动投影 1288 • PCB抄板中三种LAYOUT布线比较 4837 • CAN网络中三种终端电阻的布置方式 6642 • zynq中三种实现GPIO的方式 2977 • 集成电路IC芯片三种测试类型 1119 • java中三种常见内存溢出错误的处理方法 1581 23 个讨论