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`v失效：产品失去规定的功能。 v失效分析：为确定和分析失效器件的失效模式，失效机理，失效原因和失效性质而对产品所做的分析和检查。 v失效模式：失效的表现形式。 v失效机理：导致器件失效的物理，化学变化过程。 v失效原因：导致发生失效的直接原因，它包括设计，制造，使用和管理等方面的问题。 v失效分析的目的：失效分析是对失效器件的事后检查，通过失效分析可以验证器件是否失效，识别失效模式，确定失效机理和失效原因，根据失效分析结论提出相应对策，它包括器件生产工艺，设计，材料，使用和管理等方面的有关改进，以便消除失效分析报告中所涉及到的失效模式或机理，防止类似失效的再次发生。 IC失效分析培训.ppt ` 
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大佬谢谢谢谢谢谢谢谢
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非常感谢，正好需要
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谢谢分享！！！！！！！！！！！！！！！！！！！！！！！！！
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谢谢谢谢嘻嘻嘻嘻嘻嘻嘻嘻嘻嘻嘻嘻嘻嘻
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发现一个宝藏网站，nice!
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学习一下，交流交流，感谢感谢
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现在很多的失效分析到EOS、EIPD就没办法往下了，还是要从失效机理出发，找到rootcause
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IC ESD EOS问题比较多，学习经验
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只有小组成员才能发言，加入小组>>
【电路设计】+ 双口RAM芯片测试模块（MSP430F122+MAX491）
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同样都HBM,芯片级（component level）和系统级（system level）的差别在哪里？
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