聚焦测试测量，联手业界巨头助力“中国创造”

莫延芬 · 发表于 2014-4-14 18:09:05

本帖最后由 bewin 于 2014-4-14 18:13 编辑

　　由电子发烧友网举办的“测试测量技术研讨会”于4月10日在华强北完美落幕，本次会议邀请罗德与施瓦茨、Litepoint、安捷伦、泰克以及安立等国内外知名厂商进行演讲，来自测试测量领域研发、设计、制造等企业技术工程师、研发经理、产品经理、高层管理人员，以及系统集成商、软件开发商等企业研发、设计等技术工程师、高层管理等人员均悉数出席会议，场面异常火热。

　　混合域技术来袭满足未来测试需求

　　毫无疑问，人们对电子产品的质量要求越来越高，测试测量技术面临严峻挑战。传统的模拟和数字示波器遇到众多瓶颈，如垂直灵敏度和精度、触发抖动、频谱分析速度、动态范围以及隔离度等。

　　泰克科技有限公司中国区行业渠道开发经理王跃伟表示，优胜者要能够提供真正的混合信号解决方案（模拟+数字+射频），混合域分析技术或将成为主流示波器市场的发展趋势，满足未来测试需求。

　　4G势起安立测试解决方案有谱

　　随着我国4G牌照下发，TD-LTE市场应用的不断发展，测试需求也在不断增加，测试仪表和测试系统作为TD-LTE产业链的重要组成部分，对于产品的性能、研发和产业化起到了关键的推动作用，特别是在有关终端测试的多模功能一体化测试系统、高速数据业务仿真测试系统、多网络共存条件下的网络优化工具等方面，TD-LTE提出了更高、更迫切的需求。测试仪表和系统厂商只有紧跟产业发展的脚步，及时开发出相应的产品，才能抢占市场先机。

　　鉴此，安立公司市场部业务拓展经理万力铭带来“研发到生产——安立4G无线通信技术整体测试解决方案”主题演讲。针对LTE市场发展，万力铭谈到，LTE商用网络发展迅速，目前已有274个商用网络遍布101个国家地区，其用户数目亦在快速增长，到2013年Q4季度，全球已有2亿LTE用户。

　　此外，万力铭就目前从研发到生产面临的测试挑战进行阐述，并提供安利公司的完整解决方案，帮助工程师快速完成LTE芯片协议的开发、性能测试。

　　瞄准测试市场巨头各出奇招

　　会议上，Litepoint中华区技术经理马国华带来“现代化高批量生产模式下多待测物（DUT）并行测试技术研讨”。

　　Litepoint IQxstream是针对智能手机/平板电脑/数据卡市场的产品生产测试解决方案，通过运用高性能、针对产线测试优化的结构，专注于产品生产测试的核心规格，大大降低了测试时间。

　　之后，来自安捷伦公司的Application Engineer黄天贵带来“无源器件及PCB生产测试挑战”主题演讲，以最低的成本完美兼顾RF无源器件及PCB生产测试。

　　针对PCB生产测试，黄天贵表示，相较于传统PCB测量方法，未来PCB测试的趋势有：（1）PCB尺寸将更小，集成更多器件；（2）天线、速率和散射参数方面，数据速率将越来越快，一个设备里将有更多天线，越来越多PCB供应商开始制造天线。

　　而来自罗德与施瓦茨公司示波器业务发展经理汪进进则着重强调EMI测试的重要性，他首先阐述了EMI及传统的测试方案，并在此基础上针对调试测试给大家提供EMI调试的七个步骤及相关案例。

　　汪进进表示，事实表明EMI是可以在理念和设计中加以控制的。通过把EMI设计融入产品研发设计流程，能够有效提升产品的EMI品质，最终提升产品一次性通过率，节省不必要的浪费。

　　为了达到这样一个目标，需要从一个产品的总体规格方案、原型设计到产品结构试装直到量产阶段均介入EMI的设计和评估。

　　传统的认证测试更多地用于预兼容或兼容认证测试，一般在项目后期才开始介入，主要起到摸底和获得认证的作用。然而这类型的测试仅仅给出了产品的合格与否的判断以及对超差频点的列举，但对于问题的调试整改还是需要工程师去找出具体电路问题所在，并针对该电路进行整改。在产品研发中的EMI测试更多的是进行非认证的调试诊断。主要是在设计、调试阶段对被测电路进行EMI特性测试，以便及时调整电路的参数和设计，满足相关EMI标准要求，为确保产品顺利通过EMC认证、提升一次性通过率做保障。

聚焦测试测量，联手业界巨头助力“中国创造”

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