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开关矩阵不能正常工作怎么解决?

我正在使用 spi 通信,给芯片 DIN 32 位数据,根据数据手册移位寄存器,这些数据应该在下一个周期从 DOUT 引脚输出,但这里 DOUT 一直没有输出,给 DIN 的数据也没有控制开关闭合,这是芯片坏了吗?


_CS拉高的时候Dout会跟随Din变化,反而拉低的时候,芯片不工作

回帖(1)

王燕

2025-4-23 17:07:26

针对开关矩阵芯片SPI通信异常的问题,以下是逐步排查和解决方案:




1. 确认SPI模式(CPOL/CPHA)



  • 检查数据手册:确认芯片要求的SPI模式(CPOL和CPHA),常见模式有0(0,0)或1(0,1)。

  • 验证主设备配置:确保主控的SPI控制器设置与芯片要求一致(如STM32需配置SPI_MODE)。




2. 检查CS信号时序



  • CS有效电平:确认芯片要求CS高电平还是低电平有效。若手册要求CS低有效,传输期间应保持低电平,结束时拉高。

  • 时序验证:用示波器或逻辑分析仪抓取波形,确认CS在数据传输期间有效,且在最后一个时钟边沿后拉高(锁存数据)。

  • 异常现象分析:  

    • 若CS拉高时DOUT变化,可能表示芯片在CS无效时直通数据,而有效时未响应。需检查CS极性设置是否反向。





3. 验证时钟频率和稳定性



  • 降低SCK频率:尝试降低SPI时钟(如从1MHz降至100kHz),排除因时钟过快导致的数据采样失败。

  • 检查信号质量:观察SCK、DIN波形是否干净,避免振铃或噪声干扰。




4. 检查数据格式和传输顺序



  • 位序匹配:确认数据是高位在前(MSB First)还是低位在前(LSB First),与芯片要求一致。

  • 32位数据拆分:若主设备SPI控制器仅支持8/16位传输,需将32位数据拆分为4个字节按顺序发送。

  • 示例代码(假设MSB优先):
    uint32_t data = 0x12345678;
    uint8_t buf[4] = {
      (data >> 24) & 0xFF,  // 高位字节
      (data >> 16) & 0xFF,
      (data >> 8) & 0xFF,
      data & 0xFF
    };
    HAL_SPI_Transmit(&hspi, buf, 4, 100);  // 发送4字节




5. 硬件连接排查



  • 线路通断测试:用万用表检查DIN、DOUT、SCK、CS到芯片引脚是否连通,排除虚焊或断路。

  • 电源和地:测量芯片VCC电压是否稳定(如3.3V或5V),检查GND连接是否可靠。

  • 上拉/下拉电阻:若CS、DOUT等信号需上拉,确认电阻值符合手册要求(如10kΩ)。




6. 检查电源和复位状态



  • 复位引脚:确认复位引脚(如有)未被意外拉低,导致芯片处于复位状态。

  • 旁路电容:检查电源引脚是否就近放置0.1μF电容,滤除高频噪声。




7. 逻辑分析仪抓取SPI信号



  • 关键信号:捕获DIN、SCK、CS和DOUT的波形,检查以下内容:

    • 数据是否按预期发送32位。

    • CS在传输期间是否保持有效电平。

    • DOUT在CS拉高后是否有预期输出(可能需多个时钟周期后生效)。





8. 替换测试与芯片诊断



  • 更换芯片:若上述步骤均无误,尝试更换同型号芯片,排除硬件损坏。

  • 静态功能测试:根据手册测试芯片基础功能(如供电后默认状态是否正常)。




9. 软件时序优化



  • 延迟添加:在CS拉高前增加微小延迟(如1μs),确保最后一个时钟边沿完成。

  • 代码示例(STM32 HAL库)
    HAL_GPIO_WritePin(CS_GPIO_Port, CS_Pin, GPIO_PIN_RESET);  // CS拉低
    HAL_SPI_Transmit(&hspi, data, 4, 100);                    // 发送数据
    HAL_GPIO_WritePin(CS_GPIO_Port, CS_Pin, GPIO_PIN_SET);    // CS拉高
    HAL_Delay(1);  // 等待数据锁存




总结排查步骤



  1. 检查SPI模式和时序 → 2. 验证CS信号 → 3. 降低时钟频率 → 4. 确认数据格式  

  2. 硬件连接测试 → 6. 电源/复位检查 → 7. 逻辑分析仪验证 → 8. 替换芯片


若所有步骤均无误但问题依旧,基本可判定为芯片损坏。建议联系供应商更换或申请样品测试。

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