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STM32H750XBH6TR SDRAM频率为100MHz时,FMC_SDCLK和FMC_SDNWE延迟不符合标准,延迟偏大的原因?

STM32H750XBH6TR主芯片,当SDRAM频率设置为100MHz的时候,FMC_SDCLK和FMC_SDNWE延迟不符合标准,延迟偏大,造成100MHz SDRAM异常,这个延迟有办法调整吗?目前测量,PCB走线延迟几乎可以忽略,另外如果使用烘枪将主芯片温度烘高,发现FMC_SDCLK和FMC_SDNWE延迟会变小,甚至可以达到标准,请问STM32H750XBH6TR的Delay block会有关系吗?

回帖(1)

青sky

2025-3-21 17:56:02

针对STM32H750XBH6TR在100MHz SDRAM频率下FMC_SDCLK和FMC_SDNWE信号延迟过大的问题,以下是可能的原因及解决方案:




一、问题根源分析




  1. FMC时序配置不当  



    • 在100MHz高频下,FMC时序寄存器(如FMC_SDTR中的tRCDtRPtWR等参数)需严格匹配SDRAM规格。若配置余量不足,会导致信号延迟超标。




  2. IO延迟补偿未启用或配置错误  



    • STM32H7系列支持IO Delay Block功能,允许微调信号输出延迟。若未启用或补偿值(TCO)未校准,可能导致信号时序偏差。




  3. 温度对内部电路的影响  



    • 加热后延迟减小,可能与半导体材料的负温度系数(温度升高→载流子迁移率下降→延迟增加)相矛盾,暗示可能存在以下情况:

      • 温度补偿机制:芯片内部Delay Block可能根据温度动态调整延迟。

      • 时钟树分布变化:温度升高可能优化了时钟路径的同步性。





  4. 时钟配置问题  



    • FMC时钟分频或相位设置错误,导致SDCLK与主时钟不同步。

    • 使用HSI(内部时钟)而非HSE(外部晶振)可能导致时钟抖动增大。




  5. 电源噪声干扰  



    • 高频操作下电源纹波或噪声可能影响FMC模块稳定性,导致信号延迟波动。






二、解决方案


1. 优化FMC时序参数



  • 检查SDRAM时序要求:对比SDRAM数据手册,确认tRCDtRPtWR等参数的最小值,并适当增加余量(例如+1个时钟周期)。

  • 调整FMC寄存器配置
    // 示例:设置tRCD=3周期,tRP=3周期,tWR=2周期(需根据实际SDRAM调整)
    hsdram.Init.RowCycleDelay = 3;      // tRCD
    hsdram.Init.RecoveryDelay = 3;     // tRP
    hsdram.Init.WriteRecovery = 2;      // tWR

  • 使用STM32CubeMX的自动计算工具:根据SDRAM型号和频率生成最优配置。


2. 启用并配置IO Delay Block



  • 确认Delay Block状态:检查FMC_BCRx寄存器中CCLKEN(时钟补偿使能)和DELAY字段是否启用。

  • 手动校准延迟补偿值
    // 通过调整FMC_BCRx的DELAY字段(具体值需实验确定)
    MODIFY_REG(FMC_Bank1_R->BTCR[0], FMC_BCR1_CCLKEN, FMC_BCR1_CCLKEN_ENABLE);
    MODIFY_REG(FMC_Bank1_R->BTCR[0], FMC_BCR1_DELAY_Msk, 0x5 << FMC_BCR1_DELAY_Pos);

  • 参考STM32H7参考手册:查阅“FMC IO Delay Block”章节,获取校准流程。


3. 时钟配置优化



  • 优先使用HSE(外部晶振):确保主时钟源稳定,减少抖动。

  • 检查SDCLK相位:调整FMC_SDCR中的SDCLK相位(如FMC_SDCLK_DISABLEDFMC_SDCLK_RISING)。

  • 验证时钟分频比:确保FMC时钟(HCLK3)分频后为100MHz,避免超频。


4. 电源稳定性改进



  • 增加去耦电容:在VDD和VSS引脚附近放置100nF~10μF陶瓷电容,减少高频噪声。

  • 使用低ESR电源:确保供电纹波小于50mV。


5. 温度相关调试



  • 实验验证温度影响:在不同温度下测量延迟,确认是否需启用温度补偿。

  • 启用内置温度传感器:通过ADC监控芯片温度,动态调整Delay Block参数(需自定义固件逻辑)。




三、实验验证步骤



  1. 使用示波器捕获信号:测量SDCLK与SDNWE的时序关系,确认是否满足SDRAM的tSU(建立时间)和tH(保持时间)。

  2. 逐步调整Delay值:通过寄存器微调FMC_BCRx.DELAY,观察延迟变化。

  3. 对比加热前后的寄存器状态:确认温度升高是否触发了自动补偿机制。

  4. 降低频率测试:暂时将SDRAM设为80MHz,验证问题是否消失,以排除硬件设计问题。




四、结论


延迟问题可能由FMC时序配置、IO Delay Block未校准及温度补偿机制共同导致。通过优化时序参数、启用延迟补偿并验证电源/时钟稳定性,可解决100MHz下的SDRAM异常。若问题仍存在,建议联系ST技术支持获取更深入的Delay Block配置指导。

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