在STM32CubeIDE中,调试时擦除Flash的特定页可以通过配置调试选项或使用自定义脚本实现。以下是详细步骤:
打开调试配置:
配置Flash擦除选项:
创建擦除脚本:
erase_specific_page.cfg),写入以下内容(以STM32F4为例):# 连接到目标芯片
init
# 解锁Flash
stm32f1x unlock 0
# 擦除指定页(示例:擦除第2页,起始地址0x08008000,页大小0x4000)
flash erase_address 0x08008000 0x4000
# 重新上锁
stm32f1x lock 0
shutdown起始地址和页大小(参考芯片手册的Flash页划分)。配置调试器调用脚本:
source [find path/to/your/erase_specific_page.cfg]在程序中使用HAL库函数擦除指定页:
#include "stm32f4xx_hal.h"
void erase_flash_page(uint32_t page_address) {
HAL_FLASH_Unlock();
FLASH_EraseInitTypeDef erase;
erase.TypeErase = FLASH_TYPEERASE_SECTORS;
erase.Sector = FLASH_SECTOR_X; // 替换为实际页编号
erase.NbSectors = 1;
erase.VoltageRange = FLASH_VOLTAGE_RANGE_3;
uint32_t error;
HAL_FLASHEx_Erase(&erase, &error);
HAL_FLASH_Lock();
}在调试前调用此函数(需确保代码已正确烧录)。
编写擦除脚本(如 erase_page.bat):
STM32_Programmer_CLI -c port=SWD -e Sector=X -dX为实际页编号(通过 STM32_Programmer_CLI -h 查看支持选项)。在调试前手动运行脚本,然后启动调试。
通过上述方法,可以在调试时灵活控制Flash擦除范围。推荐使用OpenOCD脚本或代码动态擦除实现部分页操作。
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