使用STM32F4的ADC的时候，发现测量结果不准确，是什么原因导致的？

VDDA引脚是要直接接3.3V吗？还是说可以跟VREF+引脚共用外部稳压器件出来的电源

1. 不同系列的ADC 电路不一样，没有校准函数的话就不需要用户校准。

2. ADC 工作与模拟电路的电源强相关，尤其是参考电源VREF。
xa0 xa0 VREF需要较高的稳定度，才能保证转换值准确。所以才有外置的引脚给用户配置合适精度的参考电源。
3. 采样电路也很重要，充分保证采样电压进来才能获得较好的结果。

如果想进一步了解ADC工作原理，可以参考官方的AN2834.

基准性能怎么样？可以测一测，后面还可以加个跟随
而且C26会不会太大了，查查3030的手册

在使用STM32F4的ADC时，如果发现测量结果不准确，可能的原因有很多。以下是一些常见的原因和解决方法：

1. ADC校准

• F4系列的ADC校准：STM32F4系列的ADC确实有校准功能，但它的校准过程与F1系列有所不同。F4系列的ADC校准是通过配置寄存器来完成的，而不是通过调用一个专门的校准函数。校准过程通常在初始化ADC时自动完成。


• 校准步骤：
  
  
  
  1. 使能ADC校准（设置ADC_CR2寄存器的CAL位）。
  
  
  2. 等待校准完成（检查ADC_CR2寄存器的CAL位是否被清除）。
  
  
  3. 校准完成后，ADC的偏移量会被自动调整。
  
  

2. 参考电压

• 参考电压稳定性：ADC的测量精度高度依赖于参考电压的稳定性。如果参考电压不稳定或有噪声，测量结果也会不准确。


• 解决方法：确保参考电压（VREF+和VREF-）稳定，并且在设计电路时使用低噪声的电源。

3. 电源噪声

• 电源噪声：ADC对电源噪声非常敏感，尤其是在高精度测量时。


• 解决方法：在电源引脚上添加适当的去耦电容（如0.1µF和10µF电容），以减少电源噪声。

4. 采样时间

• 采样时间不足：如果采样时间设置得太短，ADC可能无法充分采集信号，导致测量结果不准确。


• 解决方法：根据信号的特性，适当增加采样时间。STM32F4的ADC允许配置不同的采样时间，可以根据需要调整。

5. 信号调理电路

• 信号调理电路设计问题：如果输入信号超出ADC的输入范围，或者信号调理电路设计不当，也会导致测量结果不准确。


• 解决方法：确保输入信号在ADC的输入范围内，并且信号调理电路设计合理。

6. PCB布局

• PCB布局问题：如果ADC输入引脚附近有高频信号或噪声源，可能会干扰ADC的测量。


• 解决方法：在PCB布局时，尽量将ADC输入引脚远离高频信号源，并使用适当的屏蔽和滤波措施。

7. HAL库配置

• HAL库配置问题：在使用HAL库时，如果配置不当，也可能导致ADC测量不准确。


• 解决方法：仔细检查HAL库的ADC配置代码，确保所有参数设置正确。

8. 温度影响

• 温度影响：ADC的性能可能会受到温度的影响，尤其是在高温或低温环境下。


• 解决方法：如果工作环境温度变化较大，可以考虑使用温度补偿或其他校准方法来提高测量精度。

总结

STM32F4的ADC确实需要校准，但校准过程与F1系列有所不同。如果测量结果不准确，除了校准问题外，还需要考虑参考电压、电源噪声、采样时间、信号调理电路、PCB布局等多方面因素。建议逐一排查这些可能的原因，并根据具体情况进行调整。