ads58c28 A,B两个通道难道不能配置不同的测试模式吗

外部控制为FPGA，使用LVDS,DDR模式，配置为测试模式，A，B通道都配置为0到2047计数模式，没问题，但是把A通道配置为翻转模式，B通道为计数模式，A通道得到的结果是正常的，B通道为计数模式，但是每次加2，为什么，A,B两个通道难道不能配置不同的测试模式吗

2025-2-13 14:44:41

建议你用All Zeros，All Ones和Toggle三个模式分别看一下。看一下B通道的最后一个Bit的值。最后用FPGA里面的timing模式把ADC的输出时钟和数据都采样下来看看。是不是接口的时序有问题

2025-2-13 14:44:51

如果test模式为输出恒为1时，B通道最低位也是0吗？如果是的，就要检查一下硬件或者时序了。A和B通道的数据是分开的，在FPGA里，A的时序对了，不一定B通道就一定对的。可以用逻辑分析仪抓一下数据看看

2025-2-13 14:44:59

能不能发一张时序图？

2025-2-13 14:45:10

A，B通道都配置为翻转模式

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