根据您的描述，问题可能出在静电放电（ESD）保护措施不足或者芯片本身受到静电干扰。以下是一些建议来改善这个问题：
1. 增强ESD保护：您已经使用了磁珠和电阻来保护输入端，但可能还需要增加更多的ESD保护措施。可以考虑在每个输入端增加ESD保护二极管，以防止静电对芯片造成损害。
2. 优化电路布局：确保电路布局合理，减少信号线之间的干扰。尽量将敏感信号线远离电源线和地线，以减少电磁干扰。
3. 增加去耦电容：在芯片的电源和地之间增加去耦电容，以减少电源噪声对芯片的影响。通常，去耦电容的值可以选择0.1μF和10μF的组合。
4. 检查电源稳定性：确保电源供应稳定，电压波动在允许范围内。可以使用稳压器或者LDO（低压差线性稳压器）来提高电源稳定性。
5. 检查地线连接：确保所有地线连接良好，避免地线环路。可以使用星型接地方式，将所有地线连接到一个公共点，以减少地线环路的影响。
6. 软件复位：在软件中增加复位芯片的代码，以便在检测到异常情况时自动复位芯片。这样可以避免手动复位芯片的麻烦。
7. 检查芯片引脚连接：确保芯片引脚连接正确，没有短路或者断路的情况。可以使用万用表检查引脚之间的电阻，确保连接正常。
8. 考虑使用其他型号的芯片：如果问题仍然存在，可以考虑更换其他型号的芯片，以排除芯片本身的问题。
通过以上措施，希望能帮助您解决ADS1294R芯片在静电接触电极放电时出现的问题。
根据您的描述，问题可能出在静电放电（ESD）保护措施不足或者芯片本身受到静电干扰。以下是一些建议来改善这个问题：
1. 增强ESD保护：您已经使用了磁珠和电阻来保护输入端，但可能还需要增加更多的ESD保护措施。可以考虑在每个输入端增加ESD保护二极管，以防止静电对芯片造成损害。
2. 优化电路布局：确保电路布局合理，减少信号线之间的干扰。尽量将敏感信号线远离电源线和地线，以减少电磁干扰。
3. 增加去耦电容：在芯片的电源和地之间增加去耦电容，以减少电源噪声对芯片的影响。通常，去耦电容的值可以选择0.1μF和10μF的组合。
4. 检查电源稳定性：确保电源供应稳定，电压波动在允许范围内。可以使用稳压器或者LDO（低压差线性稳压器）来提高电源稳定性。
5. 检查地线连接：确保所有地线连接良好，避免地线环路。可以使用星型接地方式，将所有地线连接到一个公共点，以减少地线环路的影响。
6. 软件复位：在软件中增加复位芯片的代码，以便在检测到异常情况时自动复位芯片。这样可以避免手动复位芯片的麻烦。
7. 检查芯片引脚连接：确保芯片引脚连接正确，没有短路或者断路的情况。可以使用万用表检查引脚之间的电阻，确保连接正常。
8. 考虑使用其他型号的芯片：如果问题仍然存在，可以考虑更换其他型号的芯片，以排除芯片本身的问题。
通过以上措施，希望能帮助您解决ADS1294R芯片在静电接触电极放电时出现的问题。
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