2、使用外部26Mhz晶振,IIC命令进行BIST TEST
一开始笔者为了排除其他因素的干扰就先使用外部的26Mhz晶振作为GM8775C的时钟源,用usb转iic工具对其进行BIST TEST。GM8775C的I2C_TYPE引脚需拉低作为Slave,I2C_ADDR选择高拉,器件地址为0x5A;选择拉低,器件地址为0x58。
配置好对应的参数后,点击产生寄存器参数,选择对应的器件地址写入数据。测试后若无问题,则屏幕可以被正常点亮显示。如果点不亮,则读回数据进行比较看数据是否被正确写入。如果读写数据一致,则检查配置是否正确、晶振是否起振、芯片是否焊接好等问题。
3、使用外部26Mhz晶振,MIPI命令进行BIST TEST
以上测试没有问题后,已经可以证实后端输出lvds信号正确,后端电路没有问题了。接着复位GM8775C,将生成的寄存器组数据拷贝到mpu上,让mpu产生MIPI信号,将配置寄存器数据通过MIPI从lane0发送到GM8775C,看是否能正常被电亮。如果能点亮,证明mipi信号的clock,lane0线序没有问题,在低速下通讯是正常的;若不能点亮,则查找焊接或者MIPI线序有问题。
4、使用MIPI时钟信号,MIPI命令进行BIST TEST
测试没有问题后,可以使用MIPI来给GM8775C提供时钟源,这样既可以省去一个26Mhz晶振,同时可以测试MIPI在高速情况下工作是否正常。如果不能正常显示的话,则需要检查下mipi的布线是否符合规范。