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卓侨汉

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[问答]

用TL074IDR时,经常有IC烧坏现象,怎么解决?


  • 我司在使用TL074IDR时,经常有IC烧坏现像。
    放损坏特征:表面明显看到一个小坑,通电测量运放的输出接近正电源或负电源。
    运放损坏概率:最近半年的统计数据显示0.3%。
    运放的应用电路:变频器的电流经过HALL检测后经过运放(TL074)整定后送CPU处理,是成熟电路
    想问一下ti
    1、该运放的产地都有哪些?多个产地封装出来的IC差别有多大?
    2、出现这种问题,TI技术人员能不能与我司技术人员当面交流。
    以上,请回复

回帖(1)

李皓圳

2024-9-12 15:38:56
首先,我们需要分析可能导致IC烧坏的原因,然后针对这些原因提出解决方案。以下是一些可能的原因和相应的解决方案:

1. 电源电压不稳定:检查电源电压是否在规定的范围内,如果不稳定,可以考虑使用稳压器或滤波器来稳定电压。

2. 过热:检查IC的工作温度是否过高,如果过高,可以考虑增加散热措施,如散热片、风扇等。

3. 电路设计问题:检查电路设计是否合理,是否存在短路、过载等问题。如果有问题,需要重新设计电路。

4. IC质量问题:检查IC是否来自正规渠道,是否存在质量问题。如果质量问题严重,可以考虑更换供应商。

关于您的问题:

1. TL074IDR的产地:TI(德州仪器)在全球有多个生产基地,具体产地可以在IC的包装或数据手册上找到。不同产地的IC在性能和质量上可能会有一定的差异,但通常在规定的范围内。如果需要了解具体产地的信息,可以联系TI的客服或技术支持。

2. 与TI技术人员交流:如果需要与TI技术人员进行面对面的交流,可以联系TI的客服或技术支持,他们会根据您所在地区的实际情况安排技术人员与您进行交流。

建议您先从上述可能的原因入手,排查并解决IC烧坏的问题。如果问题仍然存在,可以考虑联系TI的技术支持,寻求专业的帮助。
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