STM32L451 ADC读出的数据不对，比用万用表测量的数据高，为什么？

使用的是STM32L451 就使用了一个通道PC0 使用的CubeMX配置的ADC通道1 发现了几个问题
1 ：读出的数据不对 比用万用表测量的数据高
2 ：当我使用万用表测量数据的时候同时也使用adc读数的时候 就比不加万用表读取的数值低 比如我正常读取的电压值为0.61V 但是当我设备上电读取数据时同时使用万用表读取电压时 万用表读数为0.51V ADC读数为0.35V 不知道是什么原因 理论上加不加万用表不影响ADC读取数据啊
3 ：我使用的是单次读取非连续读取 当我在每次读取数据前都校准一次后 读取的数据值就会比不加校准值低 而且当我软件上 设置的读取次数增加后数值也会变化 但是我用万用表测量万用表读取的数据一直没问题
我感觉可能是我的分压电路使用的电阻是不是太大了造成的？因为我需要低功耗所以设计电路的时候没考虑输入阻抗直接用了兆级的电阻
下面是我的软件配置以及硬件电路：
hadc1.Init.ClockPrescaler = ADC_CLOCK_ASYNC_DIV1;//ʱÖÓ1·ÖƵhadc1.Init.Resolution = ADC_RESOLUTION_12B;//ÅäÖÃadcµÄ·Ö±æÂÊΪ12λhadc1.Init.DataAlign = ADC_DATAALIGN_RIGHT;//ÓÒ¶ÔÆëhadc1.Init.ScanConvMode = ADC_SCAN_DISABLE;//²»Ê¹ÓÃɨÃèģʽhadc1.Init.EOCSelection = ADC_EOC_SINGLE_CONV;hadc1.Init.LowPowerAutoWait = DISABLE;hadc1.Init.ContinuousConvMode = DISABLE;//µ¥´ÎÖ´ÐÐhadc1.Init.NbrOfConversion = 1;//¹æÔò×éת»»¸öÊýhadc1.Init.DiscontinuousConvMode = DISABLE;//²»Ê¹Óüä¶Ïģʽhadc1.Init.ExternalTrigConv = ADC_SOFTWARE_START;//´¥·¢Ô´ Èí¼þ³ö·¢hadc1.Init.ExternalTrigConvEdge = ADC_EXTERNALTRIGCONVEDGE_NONE;hadc1.Init.DMAContinuousRequests = DISABLE;hadc1.Init.Overrun = ADC_OVR_DATA_PRESERVED;//Êý¾Ý±£ÁôÐÐΪ Êý¾Ý±£Áô¶ø·Ç¸²¸Çhadc1.Init.OversamplingMode = DISABLE;if (HAL_ADC_Init( hadc1) != HAL_OK){Error_Handler();}/* Configure Regular Channel/sConfig.Channel = ADC_CHANNEL_1;sConfig.Rank = ADC_REGULAR_RANK_1;sConfig.SamplingTime = ADC_SAMPLETIME_2CYCLES_5;//²É¼¯ÖÜÆÚÑ¡ÓÃ×î´óÖÜÆÚ È·±£¾«È·¶ÈsConfig.SingleDiff = ADC_SINGLE_ENDED;sConfig.OffsetNumber = ADC_OFFSET_NONE;sConfig.Offset = 0;