求助，关于STM8S003F3 ADC scan mode的问题求解

根据ST官方手册描述，楼主可以设置ADC_CSR_CH为扫描模式所需的最高转换通道，将扫描转换结果的CH0、CH1内容忽略不计试看看。

首先，根据您提供的信息，STM8S003F3确实支持扫描模式（Scan mode），但是只有AIN2到AIN6端口。这意味着您只能从AIN2开始连续采集模拟信号，直到AIN6。

要使用STM8S003F3的ADC扫描模式，您需要按照以下步骤操作：

1. 配置ADC通道：在ADC_CSR寄存器中设置CH[3:0]位，以选择要扫描的通道。例如，如果您想从AIN2扫描到AIN4，您可以将CH[3:0]设置为0101（二进制）。

2. 启用扫描模式：在ADC_CR1寄存器中设置SCAN位，以启用扫描模式。

3. 配置ADC转换速率：在ADC_CR1寄存器中设置ADC_SPEED位，以选择适当的转换速率。

4. 启动ADC转换：在ADC_CR1寄存器中设置ADSC位，以启动ADC转换。

5. 读取转换结果：在ADC_DRH和ADC_DRL寄存器中读取转换结果。

请注意，由于STM8S003F3只有AIN2到AIN6端口，您需要确保您的模拟信号连接到这些端口之一。如果您需要从AIN0或AIN1采集信号，您可能需要考虑使用其他具有这些端口的STM8系列微控制器。