错误检测和校正技术可用于帮助减轻硅器件。ARMv8-M处理器包括一些功能，可以检测这些错误。
在硅器件中，出现错误的原因可能是：
•软件错误。
•使用错误，条件在正常操作条件之外。例如温度或
电源电压，或意外操作，如无效输入数据或操作员错误。
•内存损坏，杂散辐射和其他影响可能导致存储的数据在RAM中被破坏。
ARMv8‑M处理器的功能可以使软件管理甚至纠正一些错误条件，并提醒设备的用户注意该事件，以便进行纠正或保护可以采取行动。一些ARMv8‑M设备设计用于检测更多类型的错误
条件，并且可以以可预测的方式处理检测到的错误，使其适合用于安全相关系统。
检测和处理错误的功能分为体系结构功能和实现特定功能。ARMv8‑M处理器的体系结构包含故障通过异常处理功能，以及用于处理系统级的非屏蔽中断（NMI）
错误，例如，褐化检测。特定于实现的功能，如错误此处不包括存储器的纠正代码（ECC）。
ARMv8-M体系结构是为具有小硅占地面积的设备设计的。
与ARMv6-M体系结构类似，所有故障事件都被认为是不可恢复的。
在ARMv8-M体系结构中没有故障状态寄存器，就像在ARMv8M中一样
带有主扩展的体系结构。但是，软件开发人员仍然可以在
使用调试功能的软件开发，如微跟踪缓冲区（MTB）或嵌入式跟踪
宏细胞（ETM）。这些功能提供了最近的执行历史记录，因此使问题能够
易于识别。
硅片设计者也可以创建自己的故障状态寄存器和故障地址
寄存器以捕获有关总线错误的信息。
