STL 库配置为一次测试多个扇区（每个 128kByte）。
我们的使用模型与 ST 提供的 Nucleo 参考项目紧密相关，该参考项目用于帮助集成 STL 库；我们正在该包中使用 IAR 项目。
截至今天，我们的代码使用了 3 个扇区（2 个完整扇区和一个部分扇区）。
Flash 测试（通过 STL_SCH_RunFlashTM API）在前 2 个扇区运行良好，但总是在第 3 个扇区失败。
事实证明，这是因为 ST 提供的 CRC 表生成器实用程序（使用选项 -sl 调用的
STM32_Programmer_CLI.exe）不会在第 3 个扇区内使用中内存的最后一个字节之后生成 CRC。
为了解决这个问题，我使用了 IAR IDE 中内置的内存填充选项，以强制填充到已知模式，而不是 0xFF。
当我尝试将调试构建加载到目标中时，这会导致 IAR IDE 抛出“多个图像重叠”错误。
附件“ELF-map.txt”显示了准确的错误消息和 ELF 查看器的输出。
在文件底部的第三个日志中可以清楚地看到重叠。看起来 CRC 表生成器实用程序为每个程序部分的 32 位对齐做了一些填充，可能会侵占下一个部分。
你有什么建议？
在调用 CRC 表生成器实用程序之前加入 2 个段 A0 和 Fill1？
其他？
注意：该问题仅与 IDE 加载到目标中的 ELF 文件有关。如果我通过 STM32CubeProgrammer 在 IDE 外部下载调试 *.bin 文件，我可以实现 100% 的覆盖率（所有 3 个扇区）。我正在考虑由 IDE 与 ELF 文件一起生成的 *.bin 文件。
举报
