不做粗校准会对CH573系列新品的ADC准确度有明显的影响吗？

ADC使用之前官方例程中有对ADC做粗校准，这需要一个AIN输入脚必须悬空，这个芯片本来GPIO就不多，这样要使用ADC必须拿出来一个脚悬空比较浪费。


我这边之前项目涉及到用ADC测量锂电池电压(0.0v~4.35v)，因为精度需要所以还有会有一个通道AIN测量1.250v基准源（TL432基准源），这样用基准源反算锂电池电压会比较准确

如果用我上面的办法专门一路1.250v基准源输入反算锂电池电压，那么不做粗校准会对CH573系列新品的ADC准确度有明显的影响吗？【核心问题是我这边IO口比较紧张，不想浪费一个IO专门用来悬空丢着，做AD粗校准用】

以下是官方例程↓


/* 单通道采样：选择adc通道0做采样，对应 PA4引脚， 带数据校准功能 */
  PRINT( "n2.Single channel sampling...n" );
  GPIOA_ModeCfg( GPIO_Pin_4, GPIO_ModeIN_Floating );
  ADC_ExtSingleChSampInit( SampleFreq_3_2, ADC_PGA_0 );

  GPIOA_ModeCfg( GPIO_Pin_5, GPIO_ModeIN_Floating );
  RoughCalib_Value = ADC_DataCalib_Rough(); // 用于计算ADC内部偏差，记录到全局变量 RoughCalib_Value中
  PRINT( "RoughCalib_Value =%d n", RoughCalib_Value );