硬件环境:
1.DSP6748+
FPGA;晶振24Mhz
2.FPGA控制复位(复位信号有抓到);
3.应用程序存储在NANDFLASH中,型号是参考的LCDK
开发板,
电路设计一致;
4.启动方式为FLASH启动,DSP与FLASH通过EMIF总线连接;
5.应用程序通过CCS5.5编译生成.out,将.out使用AIS生成工具合成AIS文件烧入FLASH
故障发生时机:
1.之前调试阶段没有出现过,板子调试完成入库的时候还好好的,放在库里几个月就出现这种故障了
故障现象:
1.DSP无法启动,但是能连接
仿真器,连上仿真器可以看到ECC校验出错,此时将DDR中.text的内容save下来,与正常板子save的内容比较,可以看到.text有很多内容不一致
2.查看了AIS中配置的EMF参数,是默认的0x3ffffffD(最保守参数),EMIF配置的时钟是57Mhz
2.示波器抓EMIF的CS线可以发现:正常板子的CS信号相对故障板子要多很多;
3.连上仿真器后能加载应用程序到DDR中,估计AIS头已经读出,且将PLL正确初始化了,且从仿真器连上后查看的寄存器看,EMIF和PLL相关寄存器配置值与预期一致
4.硬件修改启动方式为UART启动,使用官方的上位机,使用相同的应用程序,能启动成功
5.连上仿真器后,加载了一个demo程序,运行在DDR中,该程序将烧录在FLASH中的应用程序回读回来,ECC没出错,且与烧录进去的应用程序进行比较完全一致;
6.仿真器加载烧录程序,运行在DDR中,重新烧录应用程序,板卡能正常启动了,几千次压力启动测试后故障也不复现。
请教下
ti的大佬:
1.是否TI官方的LCDK开发板也有这种现象,是不是FLASH本身的问题;
2.目前没有其他的思路了,能否请教下还有没有啥排故的思路。