基于LabVIEW和DS1820的多点温度测试系统毕业论文

基于labview和DS1820的多点温度测试系统可分为上位机和下位机两部分。上位机采用LabVIEW编程，PC通信自带串行口，和单片机进行远程通信；下位机选用51系列单片机，用C语言编程，单片机外围电路将采集到的温度信息传给单片机，单片机再将其传导上位机。本文为上位机部分，利用LabVIEW开发环境设计PC机上位机的监控界面，上位机通过串行口与下位机的单片机通信，从而实现对过程参数的测量和控制。该控制系统设计简单，简化了系统与硬件结构，并且易于修改，具有很好的可扩展性。