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载自https://mp.weixin.qq.com/s/RChXpJYni0vqZdJgWtFqJQBoundary Scan： A：Boundary scan 顾名思义，是附加在芯片I/O 周边的扫描测试链，它通过专门的测试端口(TAP)访问。在测试模式下，边界扫描链会接管功能逻辑，对I/O进行灵活访问。边界扫描链的结构，测试端口，以及其控制器(TAP Controller)，被IEEE定为标准协议(IEEE 1149), 也称做JTAG. 边界扫描链最早应用于印刷
电路板上芯片间的互联测
