你问的应该是如何仿真出噪声性能吧。怎么都在讨论失调呢，我记得SC Amplifier有一套比较好的消除失调方法吧，就是用一个电容存电压，改变基线位置，切换开关进入放大模式这样吧。关于动态比较器的噪声，见过一个师兄用一种统计的方法仿真的：0~VDD一定步长扫描输入电压，统计逻辑1的比例。比如阈值设定在VDD/2时，不考虑失调，那么输入VSS时就输出0%的逻辑1，VDD/2输出50%的逻辑1。这样你就能看到一个曲线了，这个曲线约抖说明噪声性能越好。我个人觉得吧这个不够本质，因为你也不知道噪声到底和哪些MOS相关。比较器的噪声就边沿敏感和电压敏感两种，SAR里是电压敏感，固定动态比较器进入比较模式，也就是时钟改为给定1或者0，用AC仿真出等效输入噪声就好了，和刚刚说的统计的方法本质一样，还更容易控制噪声电压的大小是否达到了预期值，噪声电压大小就直接等于RMS，更直观了。就这些嘞好兄弟，希望能帮到你。
你问的应该是如何仿真出噪声性能吧。怎么都在讨论失调呢，我记得SC Amplifier有一套比较好的消除失调方法吧，就是用一个电容存电压，改变基线位置，切换开关进入放大模式这样吧。关于动态比较器的噪声，见过一个师兄用一种统计的方法仿真的：0~VDD一定步长扫描输入电压，统计逻辑1的比例。比如阈值设定在VDD/2时，不考虑失调，那么输入VSS时就输出0%的逻辑1，VDD/2输出50%的逻辑1。这样你就能看到一个曲线了，这个曲线约抖说明噪声性能越好。我个人觉得吧这个不够本质，因为你也不知道噪声到底和哪些MOS相关。比较器的噪声就边沿敏感和电压敏感两种，SAR里是电压敏感，固定动态比较器进入比较模式，也就是时钟改为给定1或者0，用AC仿真出等效输入噪声就好了，和刚刚说的统计的方法本质一样，还更容易控制噪声电压的大小是否达到了预期值，噪声电压大小就直接等于RMS，更直观了。就这些嘞好兄弟，希望能帮到你。
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