一个自动化测试系统需要执行诸多任务和测量操作步骤,其中有些操作是针对特定的被测设备(Device under test, DUT),而其它的则是适用于各种被测设备。传统的测试系统通常将两种操作类型整合到同一个单一的软件层。在这种范式下,当项目的要求发生变化时,测试系 统的每个部分都需要更改,并且代码的重用变得非常繁琐。
一个自动化测试系统需要执行诸多任务和测量操作步骤,其中有些操作是针对特定的被测设备(Device under test, DUT),而其它的则是适用于各种被测设备。传统的测试系统通常将两种操作类型整合到同一个单一的软件层。在这种范式下,当项目的要求发生变化时,测试系 统的每个部分都需要更改,并且代码的重用变得非常繁琐。