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sunny

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半导体失效分析项目介绍

2020-11-26 13:58

半导体失效分析项目介绍,主要包括点针工作站(Probe Station)、反应离子刻蚀(RIE)、微漏电侦测系统(EMMI)、X-Ray检测,缺陷切割观察系统(FIB系统)等检测试验。

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