现在大多数蜂窝电话采用的无线技术是时分多址(TDMA)，这种复用技术以217Hz的频率对高频载波进行通/断脉冲调制。容易受到RF干扰的IC会对该载波信号进行解调，再生出217Hz及其谐波成分的信号。由于这些频谱成分的绝大多数都落入音频范围，因此它们会产生不想要的听得见的“嗡嗡”声。由此可见，RF抑制能力较差的电路会对蜂窝电话的RF信号解调，并会产生不希望听到的低频噪音。为了测量产品的质量，测试时需要把电路放在RF环境中测量，该RF环境要与正常操作时电路遇到的环境相当。
本文描述了一种通用的集成电路RF噪声抑制能力测量技术。RF抑制能力测试将电路板置于可控制的RF信号电平下，该RF电平代表电路工作时可能受到的干扰强度。这样就产生了一个标准化、结构化的测试方法，使用这种方法能够得到在质量分析中可重复的有用结果。这样的测试结果有助于IC选型，从而获得最能够抵抗RF噪声的电路。
可以将被测件(DUT)靠近正在工作的蜂窝电话，以测试其RF敏感度，但是，为了得到一个精确的、具有可重复性的试验结果，需要采用一个固定的测量方法，在可重复的RF场内测试DUT。解决方案是采用RF测试电波暗室，提供一个可精确控制的RF场，其相当于典型移动电话所产生的RF场。
现在大多数蜂窝电话采用的无线技术是时分多址(TDMA)，这种复用技术以217Hz的频率对高频载波进行通/断脉冲调制。容易受到RF干扰的IC会对该载波信号进行解调，再生出217Hz及其谐波成分的信号。由于这些频谱成分的绝大多数都落入音频范围，因此它们会产生不想要的听得见的“嗡嗡”声。由此可见，RF抑制能力较差的电路会对蜂窝电话的RF信号解调，并会产生不希望听到的低频噪音。为了测量产品的质量，测试时需要把电路放在RF环境中测量，该RF环境要与正常操作时电路遇到的环境相当。
本文描述了一种通用的集成电路RF噪声抑制能力测量技术。RF抑制能力测试将电路板置于可控制的RF信号电平下，该RF电平代表电路工作时可能受到的干扰强度。这样就产生了一个标准化、结构化的测试方法，使用这种方法能够得到在质量分析中可重复的有用结果。这样的测试结果有助于IC选型，从而获得最能够抵抗RF噪声的电路。
可以将被测件(DUT)靠近正在工作的蜂窝电话，以测试其RF敏感度，但是，为了得到一个精确的、具有可重复性的试验结果，需要采用一个固定的测量方法，在可重复的RF场内测试DUT。解决方案是采用RF测试电波暗室，提供一个可精确控制的RF场，其相当于典型移动电话所产生的RF场。
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