作者:齐芳 吴尽昭
0 引 言
错误诊断是集成
电路验证后期一个非常重要的阶段,它帮助设计者在一个错误芯片中预测错误点,因此可以减轻整个调试过程中的工作量。经过许多年的研究工作,组合电路的错误诊断正趋于成熟和实用化。这些方法主要分为两类:基于模拟的方法和符号方法。基于模拟的方法在每个错误向量对电路的模拟中,通过过滤掉非错误点而使含有错误点的区域逐渐被限定下来。符号方法不用明确列举错误向量,而是主要依赖于二叉决策图BDD,并提出错误源定位的充分必要条件。依据此充分必要条件,可直接定位错误点。该方法由于使用BDD技术,因而存在内存爆炸的隐患。
Boppana为错误诊断提出了一个概括的基于区域的模型,该模型可以被扩展来定位多错误,并且可以用于解决时序电路的错误诊断。Shi-Yu Huang提出了利用符号模拟来优化拜占庭式错误诊断的过程。Boppana介绍了一个基于Xlists模拟的诊断算法。N.Sridhar提出一种诊断技术,它通过可区分的X来消减错误候选者区域。李光辉介绍了基于验证技术的错误诊断方法,该方法将三值模拟与SAT技术相结合,以消减错误空间,提高诊断结果。
在此,提出一种利用符号模拟技术来优化基于区域模型错误诊断过程的方法。该方法首先使用基于区域模型错误诊断方法中电路划分方法对所要诊断的电路进行区域划分,然后在其基础上利用符号模拟技术并使用两个测量标准对各个区域的可疑度进行等级排序。可疑度越高的区域包含错误点的可能性越大。由于使用符号模拟技术,不需要对向量空间进行明确列举,因而所提出的方法在时间上是有效的。