GSM
手机的大量普及导致了不需要的RF信号的持续增加,如果
电子电路没有足够的RF抑制能力,这些RF信号会导致电路产生的结果失真。为了确保电子电路可靠工作,对于电子电路RF抑制能力的测量已经成为产品设计必不可少的一个环节。本文介绍了一种通用的RF抑制能力测量技术-RF电波暗室测量装置,描述了它的组成和操作方式,并给出了实际测量结果的例子。
现在大多数蜂窝电话采用的无线技术是时分多址(TDMA),这种复用技术以217Hz的频率对高频载波进行通/断脉冲调制。容易受到RF干扰的IC会对该载波信号进行解调,再生出217Hz及其谐波成分的信号。由于这些频谱成分的绝大多数都落入音频范围,因此它们会产生不想要的听得见的“嗡嗡”声。由此可见,RF抑制能力较差的电路会对蜂窝电话的RF信号解调,并会产生不希望听到的低频噪音。为了测量产品的质量,测试时需要把电路放在RF环境中测量,该RF环境要与正常操作时电路遇到的环境相当。