ADI 技术

张杰

7年用户 255经验值

私信关注

[问答]

ADE7880芯片在测试中C相的功率会突变

您好！我的项目进展也处于后半段，现在我们遇到了下面几个问题希望您能帮助我，非常感谢！
1：在测试中C相的功率会突变，比如相位为0°时检测时会突变成其他数值，但A和B相却没有出现类似的情况。
2：在测试中在输入电压和电流不变的情况下，改变电流和电压之间的相位，会改变电压和电流有效值，这个是什么原因。
3 ：焊接的质量对数据采集是否有影响

在上述问题中是否和采集的顺序有关，还有对PCB布线中有没有特殊的要求

回帖（4）

张虎豹

2019-3-6 13:16:37

您好，您的问题已经提交给ADI相关专家，将邀请专家尽快回答您的问题。谢谢！

举报

张博

2019-3-6 13:25:56

您好。
请您发送原理图到china.support@analog.com。请问测试使用的是精确源还是什么其他负载
有效值计算与相位角、读取顺序没有关系。请检查输入模拟信号是否存在变化，以及板上的串扰情况

举报

薛丽娜

2019-3-6 13:45:31

没有见下文解答回复。

举报

薛丽娜

2019-3-6 13:51:54

引用: huangxinxin 发表于 2019-3-6 13:45
没有见下文解答回复。

通信没有问题。
最终搞清楚，是因为run寄存器没有配置的缘故。
谢谢楼上各位。

举报

更多回帖

4

相关问答

×

20

完善资料，
赚取积分