测试测量技术
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12F3393

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一种贴片电容的测试方法是否对电容的优劣有意义

实验设备,高温台(设置温度为180℃),电压源(DP832),白光电烙铁(焊接温度280℃焊接时间小于4秒)实验材料:TDK(型号C1005X7R1E106K)电容:10uf25V0402、村田(型号GRM155R71E106K)电容:10uf25V0402、三星电容:10uf10V0402 ,上海凝电容:10uf6.3V
实验步骤及实验条件:将电容焊接于电路板焊盘上,将电容两端焊接引线,将引线两端与电压源连接,将电源源输出电压设置为20V,电流限制为50mA,开启电源输出开关,将电路板快速放于高温台上,同时用手机秒表记录时间(误差2秒),观察电源电压值,电压值拉低后停止记录时间,对比不同电容失效时间

以上试验是否能代表不同电容寿命,不同电容耐压是否会对实验有影响?





回帖(4)

12F3393

2017-8-8 08:38:04
条件180℃ 20V                                               
2.2uF0402        1uF0402        0.47uF0402        0.1uF0402        10uf10V        10UF25V村田        10UF25VTDK
失效时间        失效时间        失效时间        失效时间        失效时间        失效时间        失效时间
3分钟未失效        3分钟未失效        3分钟未失效        3分钟未失效        20s        25s        28s
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12F3393

2017-8-8 08:40:44
实验结果,小封装大容值电容高温,高电压情况下极易短路,低容值电容不容易失效,当降低电压,失效时间会增长
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12F3393

2017-8-8 08:43:08
所有电容焊接位置均为,电路板通一焊盘位置,使用五块相同电路板,并且实验时,同一种电容使用了5pcs
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林宝

2020-1-2 15:27:52
感谢楼主分享~~~
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