ic验证检测失效分析芯片Burn-in Socket、Test Socket 老化座

测试座，烧录座，老化座Burn-in Socket、Test Socket适用于BGA,QFP,QFN.LGA.CSP,DIP.SOP,等一系列封装测试的一家微电子公司，主要用于芯片的不良产品的检测（开短路，电流等），兼容性检测，及芯片烧录资料，芯片老化，失效分析等一系列列的产品制作

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2017-1-12 11:09:59

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