边界扫描控制器SN74LVT8980有三个问题求解

针对您提出的三个问题，我将逐一进行解答：

1. Discrete-control mode离散模式下查被测芯片的寄存器TAPST无变化：

在离散控制模式下，TAP状态机（Test Access Port State Machine）的状态变化可能受到多种因素的影响。以下是一些可能的原因：

a. 时钟信号（TCK）不稳定或不同步：确保TCK信号稳定且与被测芯片的时钟信号同步。

b. 测试数据（TDI）或测试模式（TMS）信号不正确：检查TDI和TMS信号是否正确连接并传输正确的数据。

c. 被测芯片的TAP状态机存在问题：检查被测芯片的TAP状态机是否正常工作，或者是否存在硬件故障。

d. 边界扫描控制器SN74LVT8980配置不正确：检查控制器的配置是否正确，包括控制信号和数据信号的连接。

2. Automatic/gated-TCK mode下，目标器件怎么进入Update-DR和Update-IR状态：

在自动/门控TCK模式下，目标器件进入Update-DR和Update-IR状态的过程如下：

a. 首先，确保TCK信号已经稳定且与目标器件的时钟信号同步。

b. 将TMS信号设置为高电平，以使TAP状态机进入Select-DR或Select-IR状态。

c. 通过TDI信号传输数据，将数据加载到DR或IR寄存器中。

d. 当TAP状态机处于Capture-DR或Capture-IR状态时，将TMS信号设置为低电平，以使TAP状态机进入Update-DR或Update-IR状态。

e. 在Update-DR或Update-IR状态下，TCK信号的上升沿将触发DR或IR寄存器的更新操作。

3. 设置寄存器的顺序，counter最后设置？

在边界扫描测试中，设置寄存器的顺序通常如下：

a. 首先设置TAP状态机，使其进入适当的状态（例如Select-DR或Select-IR）。

b. 接下来，设置DR或IR寄存器的值。这包括将测试数据（TDI）传输到DR或IR寄存器中。

c. 最后，设置计数器（Counter）寄存器。计数器寄存器用于控制测试序列的执行，因此通常在设置其他寄存器之后进行。

请注意，具体的设置顺序可能因目标器件和测试需求而异。建议您参考目标器件的数据手册和边界扫描测试规范，以确定最适合您的测试需求的设置顺序。