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在进行静电测试时,发现STM32的系统时钟配置为SYSCLK_FREQ_HSE就不能通过实验。而使用其他系统时钟配置都可以。00110 /* #define SYSCLK_FREQ_HSE HSE_VALUE */00111 /* #define SYSCLK_FREQ_24MHz 24000000 */ 00112 /* #define SYSCLK_FREQ_36MHz 36000000 */00113 /* #define SYSCLK_FREQ_48MHz 48000000 */00114 /* #define SYSCLK_FREQ_56MHz 56000000 */00115 #define SYSCLK_FREQ_72MHz 72000000对比了代码的不同之处,SYSCLK_FREQ_HSE选择HSE,而其他方式选择PLLCLK。而在system_stm32f10x.c void SetSysClockToHSE(void) 程序下加入了PLL/2*2,启动了PLL就可以通过测试了。
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1个回答
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在进行静电测试时,发现STM32的系统时钟配置为SYSCLK_FREQ_HSE就不能通过实验,可能有以下几个原因:
1. HSE(高速外部时钟)不稳定:HSE是一个外部时钟源,可能受到静电干扰的影响,导致时钟信号不稳定。当系统时钟配置为HSE时,如果HSE受到干扰,可能会影响STM32的正常工作。 2. 电源问题:静电测试可能会对电源产生干扰,导致电源电压波动。如果STM32的系统时钟配置为HSE,而HSE对电源波动敏感,那么在静电测试过程中,电源波动可能会导致HSE失效,从而影响STM32的正常工作。 3. 时钟分配问题:在STM32中,系统时钟可以分配给不同的外设。如果HSE作为系统时钟源,可能需要特定的时钟分配设置。在静电测试过程中,这些设置可能会受到影响,导致STM32无法正常工作。 4. 代码配置问题:在进行静电测试时,可能需要对STM32的时钟配置进行调整。例如,可以增加时钟稳定性,降低时钟频率,或者使用内部时钟源(如PLL)代替HSE。 为了解决这个问题,可以尝试以下方法: 1. 检查HSE时钟源的稳定性,确保其不受静电干扰。 2. 优化电源设计,减少静电测试对电源的影响。 3. 调整STM32的时钟分配设置,以适应静电测试环境。 4. 修改代码配置,使用其他系统时钟配置,如PLL或内部时钟源,以提高系统的稳定性。 5. 如果问题仍然存在,可以考虑使用其他型号的STM32,或者在设计中增加静电保护措施,如使用TVS二极管等。 |
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