[问答]

STL库配置为一次测试多个扇区的问题求解

问答对人有帮助，内容完整，我也想知道答案 0 STL 库配置为一次测试多个扇区（每个 128kByte）。我们的使用模型与 ST 提供的 Nucleo 参考项目紧密相关，该参考项目用于帮助集成 STL 库；我们正在该包中使用 IAR 项目。截至今天，我们的代码使用了 3 个扇区（2 个完整扇区和一个部分扇区）。 Flash 测试（通过 STL_SCH_RunFlashTM API）在前 2 个扇区运行良好，但总是在第 3 个扇区失败。事实证明，这是因为 ST 提供的 CRC 表生成器实用程序（使用选项 -sl 调用的 STM32_Programmer_CLI.exe）不会在第 3 个扇区内使用中内存的最后一个字节之后生成 CRC。为了解决这个问题，我使用了 IAR IDE 中内置的内存填充选项，以强制填充到已知模式，而不是 0xFF。当我尝试将调试构建加载到目标中时，这会导致 IAR IDE 抛出“多个图像重叠”错误。附件“ELF-map.txt”显示了准确的错误消息和 ELF 查看器的输出。在文件底部的第三个日志中可以清楚地看到重叠。看起来 CRC 表生成器实用程序为每个程序部分的 32 位对齐做了一些填充，可能会侵占下一个部分。你有什么建议？在调用 CRC 表生成器实用程序之前加入 2 个段 A0 和 Fill1？其他？注意：该问题仅与 IDE 加载到目标中的 ELF 文件有关。如果我通过 STM32CubeProgrammer 在 IDE 外部下载调试 .bin 文件，我可以实现 100% 的覆盖率（所有 3 个扇区）。我正在考虑由 IDE 与 ELF 文件一起生成的 .bin 文件。 0
2022-12-6 06:02:43　　评论淘帖0 邀请回答您可以邀请以下用户，快速回答问题 × wang21cj 该类别下有 47 个回答。邀请回答 chm5 该类别下有 44 个回答。邀请回答新星之火12138 该类别下有 42 个回答。邀请回答 hgimtk 该类别下有 36 个回答。邀请回答 HengDu 该类别下有 31 个回答。邀请回答可口可甜该类别下有 30 个回答。邀请回答 hwp0415229 该类别下有 30 个回答。邀请回答麻酱该类别下有 28 个回答。邀请回答 andyfly7 该类别下有 28 个回答。邀请回答 jghgfdssas 该类别下有 28 个回答。邀请回答 jiangwenwen 该类别下有 28 个回答。邀请回答 kingnet6688 该类别下有 28 个回答。邀请回答云汉007 该类别下有 27 个回答。邀请回答颜刚YanG 该类别下有 27 个回答。邀请回答柱子图宁该类别下有 27 个回答。邀请回答 bluepink 该类别下有 27 个回答。邀请回答法规处发该类别下有 27 个回答。邀请回答 ldliu 该类别下有 27 个回答。邀请回答成长的小师弟该类别下有 27 个回答。邀请回答 gXDhn 该类别下有 26 个回答。邀请回答举报王平相关推荐 • 如何用x-cube库给stm32f303VC上的RAM测试配置？ 403 • FATfs文件系统的多扇区如何读写 4595 • STM32F103C8使用SPI读取TF卡扇区有问题？ 4525 • X-CUBE-STL与ARM的STL的区别是什么？ 511 • 如何以编程方式从STL库中提取版本信息？ 479 • rt-thread有没有一次采样多个数据的函数？ 1928 • FAT32移植FATfs时，f_open出现问题，返回FR_DISK_ERR。 17162 • MPU6500使用DMP读取6轴数据，FIFO更新率基本是在30ms变化一次，为什么？ 7026 • 如何实现多个不同采样频率的多通道连续数据采集任务 4613 • 请问能在Cadence中一次查找多个元件吗？ 2777 1个回答

答案对人有帮助，有参考价值 0 当代码未与 32 位字对齐时，我确认这是一个已知问题。这是一个由 STL 硬编码的基本块。如果你参考你应该收到的带有 STL 的固件用户手册，CRC 计算的前提条件在“闪存测试”一章中有描述，特别是其中写道“用户程序的边界必须是 32 位对齐”。图像之间重叠的根本原因是，当代码未按字对齐时，STM32CubeProgrammer 使用零自动填充，同时它忽略了编译器提供的 ELF 文件的其他部分，这些部分保留有关通过预定义模式自动填充内存间隙的信息。避免此类问题的解决方案是在调用 ST CRC 计算工具之前确保代码的 32 位对齐，以避免 STM32CubeProgrammer 自动填充。

2022-12-6 11:07:53 评论举报王静