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穿透式电子显微镜TEM

2018-8-21 10:23:10 2497 电子显微镜

0 穿透式电子显微镜TEM 穿透式电子显微镜(Transmission Electron microscopy, TEM)主要是一种使用高能量电子束让超薄的样品成像，影像分辨率可达0.1奈米的原子等级，用以观察材料微结构或晶格缺陷的分析仪器。可针对材料之显微结构、晶格缺陷(Dislocation)、化学成分进行分析；搭配上EDS、HAADF(ZC)、应力分析等功能，更能得到原子尺度结构与成份信息，解决制程上各种难题。宜特服务优势：领先市场的TEM分析能力：已达5奈米制程节点快速交期：三班制24小时运作 FEI、JEOL等高阶设备，供您选择样品制备能量：八台业界高阶FEI Helios 660 Dual-beam FIB设备，搭配消除试片损伤层（离子束能量可低至500 eV）的技术，将协助您取得高质量TEM影像。 0
2018-8-21 10:23:10　　评论淘帖0 相关推荐 • 【应用案例】透射电子显微镜TEM 1338 • 透射电子显微镜TEM的原理、参数及应用 9276 • 透射电子显微镜和扫描电子显微镜的区别 37138 • 电子显微镜 2268 • 扫描式电子显微镜 (SEM) 7041 • 扫描电子显微镜原理和应用 5658 • 扫描电子显微镜sem技术探讨 3502 • 扫描电子显微镜SEM技术分享 3789 • TEM透射电子显微镜下的两种照射模式解析 256 • 透射电子显微镜（TEM）：基础知识概览 343