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[资料] 超完善的DFT学习资料
2011-12-15 09:32:30  21481 Design
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随着电子电路集成度的提高,电路愈加复杂,要完成一个电路的测试所需要的人力和时间也变得非常巨大。为了节省测试时间,除了采用先进的测试方法外,另外一个方法就是提高设计本身的可测试性。其中,可测试性包括两个方面:一个是可控制性,即为了能够检测出目的故障(fault)或缺陷(defect),可否方便的施加测试向量;另外一个是可观测性,指的是对电路系统的测试结果是否容易被观测到。
  在集成电路(Integrated Circuit,简称IC)进入超大规模集成电路时代,可测试性设计(Design for Test,简称DFT)是电路和芯片设计的重要环节,它通过在芯片原始设计中插入各种用于提高芯片可测试性(包括可控制性和可观测性)的硬件逻辑,从而使芯片变得容易测试,大幅度节省芯片测试的成本。

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最近下载过的用户(66)
· 2014-6-11 15:50:02
资料呢,在哪里?
· 2014-6-19 13:55:33
。。。。。。。。。。。。。。。。。。
· 2014-7-7 14:40:01
正想学习DFT,求指点

· 2014-7-13 08:58:57
{:23:}{:23:}{:23:}
· 2014-7-19 11:24:18
先看看,正在弄这个东西,先下来看看
· 2014-8-14 10:36:40
hfdhfhghhghjhgjhjhjhgjgjg
· 2014-8-14 21:22:30
步步高打火机
· 2014-8-30 15:40:14
路过学习下,谢谢
· 2014-10-11 07:58:14
看一看,学一学
· 2014-12-5 11:02:50
现在的学习资料有许多,不知道哪本好,先看看
· 2014-12-11 16:27:29
学习了。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。
· 2014-12-19 15:36:08
先看看。谢谢楼主分享。
· 2015-3-11 14:15:13
确实是很不错的IC失效分析学习资料
· 2015-6-11 14:50:32
下载学习一下!!下载学习一下!!
· 2015-6-24 11:59:05
谢谢楼主分享。学习了。、
· 2015-6-24 16:21:12
学习中,IC测试很关键。
· 2015-12-3 13:00:22
学习中。。。。。。。。。。。。。。。。。
· 2016-1-14 11:24:38
谢谢分享,学习一下
· 2016-3-7 13:59:19
正在入门学习这方面的知识,感谢楼主分享!
· 2016-4-19 21:42:09
不错,下来学习下

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