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清华大学芯片测试讲义pdf
2011-11-29 16:30:57  102183 芯片测试 Design
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Outline:
1. Fundamentals on Testing and Design for Testability
2. Combinational Test Generation
3. Fault Simulation
4. Sequential Test Generation
5. Memory Testing
6. Testability Measure
7. Design for Testability
8. Boundary Scan
9. Built-In Self-Test
10. IDDQ Testing

清华大学芯片测试讲义pdf
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QQ截图20111129162518.jpg
3
2011-11-29 16:30:57   评论 分享淘帖
425 个讨论
谢谢
比较实用,谢谢
2012-10-24 14:09:18 评论

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2012-10-28 21:08:32 评论

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学习学习!!!
2012-10-30 21:03:39 评论

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学习一下
2012-10-30 21:34:20 评论

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谢谢分享,呵呵
2012-11-11 21:07:52 评论

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2012-11-13 10:37:15 评论

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感谢分享!!!
2012-11-13 17:32:25 评论

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2012-11-16 22:04:55 评论

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THX
2012-11-16 22:17:13 评论

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好东西,谢谢大家的分享了
2012-11-21 23:18:02 评论

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谢谢!
2012-11-22 11:23:05 评论

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谢谢分享。
2012-11-26 12:52:14 评论

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挺好的
2012-11-27 19:16:26 评论

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2012-12-20 09:33:46 评论

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2012-12-20 21:59:36 评论

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2012-12-21 09:09:45 评论

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学习下,谢谢
xiexie,xuexi yi xia

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