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清华大学芯片测试讲义pdf

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资深工程师

发表于 2011-11-29 16:30:57   85910 查看 380 回复 显示全部楼层 倒序浏览
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Outline:
1. Fundamentals on Testing and Design for Testability
2. Combinational Test Generation
3. Fault Simulation
4. Sequential Test Generation
5. Memory Testing
6. Testability Measure
7. Design for Testability
8. Boundary Scan
9. Built-In Self-Test
10. IDDQ Testing

清华大学芯片测试讲义pdf
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QQ截图20111129162518.jpg
标签:芯片测试 Design

实习生

发表于 2011-11-29 21:28:23  
RTRTWE
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技术员

发表于 2011-11-30 09:55:41  
来学习一下
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实习生

发表于 2011-12-7 13:53:37  
xiexie

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发表于 2011-12-10 15:33:06  
学习学习!!!
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实习生

发表于 2011-12-15 14:37:37  
学习
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技术员

发表于 2011-12-17 16:34:21  
不错   
非常感谢楼主的资料分享
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实习生

发表于 2012-3-19 09:59:37  
学习一下
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实习生

发表于 2012-3-20 13:39:08  
观摩
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发表于 2012-3-21 11:23:54  
谢谢分享,下来学习学习
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技术员

发表于 2012-3-24 12:42:13  
学习
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发表于 2012-3-29 10:16:53  
顶。。。。。
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实习生

发表于 2012-3-29 19:42:21  
{:soso_e104:}
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实习生

发表于 2012-4-14 01:13:18  
看看

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清华大学芯片测试讲义pdf PCB打样找华强 http://www.hqpcb.com 样板2天出货  发表于 2013-10-26 21:33
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实习生

发表于 2012-4-14 15:03:23  
谢谢分享,,,看看,,,
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实习生

发表于 2012-4-23 16:22:49  
怎么是英文的介绍
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实习生

发表于 2012-5-12 19:17:09  
Thanks!
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实习生

发表于 2012-5-19 23:57:05  
谢谢楼主分享!!学习一下
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技术员

发表于 2012-5-22 12:07:38  
看看
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实习生

发表于 2012-5-31 17:10:44  
XUEXI{:12:}
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