发 帖  
清华大学芯片测试讲义pdf
2011-11-29 16:30:57  90563 芯片测试 Design
分享
Outline:
1. Fundamentals on Testing and Design for Testability
2. Combinational Test Generation
3. Fault Simulation
4. Sequential Test Generation
5. Memory Testing
6. Testability Measure
7. Design for Testability
8. Boundary Scan
9. Built-In Self-Test
10. IDDQ Testing

清华大学芯片测试讲义pdf
游客,如果您要查看本帖隐藏内容请回复


QQ截图20111129162518.jpg
3
2011-11-29 16:30:57   评论
399 个讨论
RTRTWE
2011-11-29 21:28:23 评论

举报

来学习一下
2011-11-30 09:55:41 评论

举报

xiexie

2011-12-7 13:53:37 评论

举报

学习学习!!!
2011-12-10 15:33:06 评论

举报

学习
2011-12-15 14:37:37 评论

举报

不错   
非常感谢楼主的资料分享
2011-12-17 16:34:21 评论

举报

学习一下
2012-3-19 09:59:37 评论

举报

观摩
2012-3-20 13:39:08 评论

举报

谢谢分享,下来学习学习
学习
2012-3-24 12:42:13 评论

举报

顶。。。。。
2012-3-29 10:16:53 评论

举报

{:soso_e104:}
2012-3-29 19:42:21 评论

举报

看看
2012-4-14 01:13:18 1 评论

举报

1 条评论
谢谢分享,,,看看,,,
2012-4-14 15:03:23 评论

举报

怎么是英文的介绍
2012-4-23 16:22:49 评论

举报

Thanks!
2012-5-12 19:17:09 评论

举报

谢谢楼主分享!!学习一下
2012-5-19 23:57:05 评论

举报

看看
2012-5-22 12:07:38 评论

举报

XUEXI{:12:}
2012-5-31 17:10:44 评论

举报

只有小组成员才能发言,加入小组>>

11个成员聚集在这个小组

加入小组

热门话题

创建小组步骤

关闭

站长推荐 上一条 /7 下一条

快速回复 返回顶部 返回列表