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Outline: 1. Fundamentals on Testing and Design for Testability 2. Combinational Test Generation 3. Fault Simulation 4. Sequential Test Generation 5. Memory Testing 6. Testability Measure 7. Design for Testability 8. Boundary Scan 9. Built-In Self-Test 10. IDDQ Testing 清华大学芯片测试讲义pdf 
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1 条评论
513 个讨论
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学习学习。。。。。。。。。
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好高级，看不民懂
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好资料 一起学习下
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楼主好人！！!1
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很需要啊，最近也在做
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还可以
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只有小组成员才能发言，加入小组>>
【电路设计】+ 双口RAM芯片测试模块（MSP430F122+MAX491）
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同样都HBM,芯片级（component level）和系统级（system level）的差别在哪里？
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