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晶片验证测试及失效分析pdf
2011-11-29 11:52:32  27159 失效分析 集成电路
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在现代集成电路制造工艺中,芯片加工需要经历一系列化学、光学、冶金、热加工等工艺环节。每道工艺都可能引入各种各样的缺陷。与此同时由于特征尺寸的不断缩小,各类加工设施成本也急剧上升。例如有人估计90nm 器件的一套掩模成本可能超过130 万美元。
因此器件缺陷造成的损失代价极为高昂。在这种条件下,通过验证测试,分析失效原因,减少器件缺陷就成为集成电路制造中不可少的环节。

晶片验证测试及失效分析
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晶片验证测试及失效分析

2
2011-11-29 11:52:32   评论 分享淘帖
222 个讨论
学习学习
2016-11-17 15:01:52 评论

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学习了.............
2016-11-18 16:25:35 评论

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为了下载
2016-11-21 10:01:46 评论

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好好来学习一下晶片测试
2016-11-22 10:22:58 评论

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需要学习一下,thanks
2016-11-28 11:05:53 评论

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真的很不错啊,我特别喜欢这个帖子。
2016-11-29 09:57:45 评论

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感谢楼主!非常好的学习资料,照了好久,终于找到了,哈哈,太感谢了!
2016-12-19 20:26:52 评论

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不断学习,
取人之长,补己之短!
2016-12-20 16:58:16 评论

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很好
写的很好。
2017-2-20 15:50:24 评论

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需要
2017-2-20 21:02:30 评论

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的点点滴滴
2017-2-20 21:02:54 评论

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学习,不错!
2017-3-10 15:35:27 评论

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谢谢分享
2017-3-13 20:40:01 评论

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学习一下
2017-3-19 07:52:36 评论

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2017-3-24 14:58:23 评论

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正在学习中,希望有用
2017-3-25 09:43:24 评论

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学习 学习
很不错的资料
2017-4-6 11:50:04 评论

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迫切需要
good
2017-4-17 12:51:18 评论

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