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[问答] 如何优化开关检测电路的抗干扰度?
335 开关检测电路 电路设计 抗干扰
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电路上的开关检测电路,外部DI1开路的时候,光不发光,DIB1输入mcu高电平;外部DI1合闸接地GND-E的时候,光耦发光,DIB1低电平。在平常应用没问题,但是做抗扰度试验就不行了,DI1和GND-E加差模2.5kV,100KHz的阻尼振荡干扰信号,整个设备就死机了,请问哪里改进,增加抗扰度。
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6 天前   评论 分享淘帖 邀请回答
9个回答
首先需要定位干扰源在哪里
6 天前 评论

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首先感觉R124=22K有点太大了,流过光耦的电流大概只有1ma;你的系统是经过光耦隔离的,所以说外部的扰动电压按道理来说不可能让这个设备死机,原因只有一个,那就是你的电源收到了干扰死机了,所以造成整个系统死机,解决这种实验不过的办法一般就是增加TVS管
1 条评论
  • 昨天 16:09

    同意你的观点,光耦输入端和输出端的电阻都是用的比较大的,这样电流就比较小,抗干扰能力也就差很多。

好的,加TVS试试。光耦电流小也会有影响吗?
6 天前 评论

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可以在这个硬件部位做一个盒子,设备全部安装在盒子里面,严格接地保护试试看效果怎么样。
弱信号控制电路外加差模2.5kV,100KHz的阻尼振荡干扰信号的时候,很容易被外电压干扰的。

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