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`1.设备型号
TF20 场发射透射电镜,配备能谱仪 2.原理 透射电子显微镜(Transmission electron microscope,缩写TEM),简称透射电镜,是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上,电子与样品中的原子碰撞而改变方向,从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度相关,因此可以形成明暗不同的影像,影像将在放大、聚焦后在成像器件(如荧光屏、胶片、以及感光耦合组件)上显示出来。 3.主要规格及技术指标 4.主要功能及应用范围 观察各种材料的微观结构并对样品进行纳米尺度的微区分析,如: 形貌观察; 高分辨电子显微像; 电子衍射; 会聚束电子衍射; 衍射衬度成像; X射线能谱分析等。 5.送样需知 5.1粉末样品基本要求 (1)单颗粉末尺寸最好小于1μm; (2)无磁性; (3)以无机成分为主,否则会造成电镜严重的污染,高压跳掉,甚至击坏高压枪; 5.2块状样品基本要求 (1)需要电解减薄或离子减薄,获得几十纳米的薄区才能观察; (2)如晶粒尺寸小于1μm,也可用破碎等机械方法制成粉末来观察; (3)无磁性; 测试联系:金鉴实验室罗工:*** 6.案例分析 (1)FIB+HRTEM+EDS 半导体薄膜领域 (2)FIB+TEM+EDS 半导体LED领域 (3)磨抛+离子减薄+HRTEM 量子阱领域 (4)FIB+HRTEM+EELS 纳米线截面观察及能谱分析 测试联系:金鉴实验室罗工:*** ` |
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【电路设计】+ 双口RAM芯片测试模块(MSP430F122+MAX491)
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